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日立 超高分辨率场发射扫描电子显微镜SU9000
面议日立 超高分辨肖特基场发射扫描电子显微镜SU8700
面议日立 超高分辨场发射扫描电子显微镜Regulus系列
面议日立 超高分辨场发射扫描电子显微镜 SU8600系列
面议日立 热场式场发射扫描电镜 SU5000
面议日立 光-电联用显微镜法(CLEM)系统MirrorCLEM
面议日立 超高分辨肖特基场发射扫描电镜 SU7000
面议日立 TM系列专用能谱仪(EDS)AZtec系列
面议日立 钨灯丝扫描电子显微镜 FlexSEM 1000 II
面议日立 钨灯丝扫描电子显微镜 SU3800 SU3900
面议日立 TM系列专用能谱仪(EDS)Quantax75
面议日立 球差校正扫描透射电子显微镜 HD-2700
面议产品介绍:
所述ZeGage™临和ZeGage™临HR 3D光学廓提供非接触测量及微表征和纳米尺度的几乎任何表面特征,以及设置性能台式的新标准,易用性,灵活性,和精密级工业非接触式表面轮廓仪。
基础 ZeGage™ Pro 模型提供纳米尺度的表面映射,满足大多数工业表面的需求。对于更光滑的样品,具有更精细的表面光洁度,ZeGage™ Pro HR 提供 20 倍以上的精度和 0.15 nm 的垂直精度。
近十年来,ZYGO 的 ZeGage™ 产品一直在将干涉表面轮廓分析从实验室引入生产。借助 ZeGage Pro 和 Pro HR 系统,强大且值得信赖的功能(例如用于振动稳健计量的 SureScan™ 技术)现在与 ZYGO 的零件查找器和智能设置工具相结合,可以快速轻松地更换样品,限度地减少浪费的时间并限度地提高产量。
与所有早期的 ZeGage™ 轮廓仪一样,ZeGage™ Pro 和 Pro HR 系统采用紧凑的台式设计。结合 SureScan™ 技术,无需昂贵的隔振台、系统外壳或耗材。它们还运行 ZYGO 的交互式控制软件Mx™,以实现简单和详细的可视化,以帮助您控制过程。
Mx 软件屏幕(单击图像查看大图)
阅读更多内容,了解 ZeGage™ Pro 系统的强大功能、多功能性和价值如何使您受益。
主要特征:
• 抗振,用于生产车间的计量和过程控制。
• 符合 ISO 25178 标准的结果确保您对计量的信心。
• 非接触式、基于区域的计量技术可防止零件损坏并且对零件铺设不敏感。
• 测量不需要消耗品。
专有的非接触式测量技术通过 SureScan™ 技术得到增强,对振动的敏感性低,易于放置在您设施内的任何位置。
具有纳米级精度的定量表面计量提供了的测量能力。
高分辨率190万像素的图像传感器可在数秒内完成快速的面积测量,以实现出色的表面细节和可视化。
全自动测量序列和现场拼接可实现大面积的高分辨率检测。(需要可选的电动部件平台。)
测量各种表面材料和参数,包括表面纹理、形状、台阶高度等的 2D 和 3D 轮廓。
随附的 Mx 软件提供了用于表面数据可视化、分析和报告的综合工具。
使用包括物镜转盘、手动和电动样品台以及用于使用 Cognex VisionPro® 进行薄膜形貌分析和 2D 分析的可选软件模块在内的附件扩展您投资的测量范围。
智能设置技术通过自动化零件查找、灯光设置和扫描配置来减少培训时间并缩短零件更换时间。智能设置通常会在将样品置于物镜下后 1 分钟内生成个数据图。
与替代系统(包括机械接触测针轮廓仪)相比,具有成本效益的性价比具有优势。
非接触式方法意味着无需担心耗材更换成本。
紧凑、抗振的 SureScan™ 技术可轻松集成到您设施的任何位置。