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日立 超高分辨率场发射扫描电子显微镜SU9000
面议日立 超高分辨肖特基场发射扫描电子显微镜SU8700
面议日立 超高分辨场发射扫描电子显微镜Regulus系列
面议日立 超高分辨场发射扫描电子显微镜 SU8600系列
面议日立 热场式场发射扫描电镜 SU5000
面议日立 超高分辨肖特基场发射扫描电镜 SU7000
面议日立 TM系列专用能谱仪(EDS)AZtec系列
面议日立 钨灯丝扫描电子显微镜 FlexSEM 1000 II
面议日立 钨灯丝扫描电子显微镜 SU3800 SU3900
面议日立 TM系列专用能谱仪(EDS)Quantax75
面议日立 球差校正扫描透射电子显微镜 HD-2700
面议日立 台式扫描电镜 TM4000II TM4000PlusII
面议产品介绍:
MirrorCLEM是一个可简便观察光学显微镜和扫描显微镜同一位置的CLEM*1用系统。
*1:CLEM (Correlative light and electron microscopy):光学显微镜和电子显微镜的联用观察显微镜法
产品特点:
MirrorCLEM是搭配FE-SEM,迅速并准确支援CLEM解析的系统。
使用此系统,在光学显微镜下从低倍率到高倍率清晰观察树脂切片目标结构后,让观察位置与FE-SEM样品台坐标信息同步,通过控制马达台在FE-SEM上可观察同一位置。
此外,还可实时显示光学显微镜和FE-SEM的叠加图像。