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日立 超高分辨率场发射扫描电子显微镜SU9000
面议日立 超高分辨肖特基场发射扫描电子显微镜SU8700
面议日立 超高分辨场发射扫描电子显微镜Regulus系列
面议日立 超高分辨场发射扫描电子显微镜 SU8600系列
面议日立 热场式场发射扫描电镜 SU5000
面议日立 光-电联用显微镜法(CLEM)系统MirrorCLEM
面议日立 超高分辨肖特基场发射扫描电镜 SU7000
面议日立 TM系列专用能谱仪(EDS)AZtec系列
面议日立 钨灯丝扫描电子显微镜 FlexSEM 1000 II
面议日立 钨灯丝扫描电子显微镜 SU3800 SU3900
面议日立 TM系列专用能谱仪(EDS)Quantax75
面议日立 球差校正扫描透射电子显微镜 HD-2700
面议产品介绍:
Nexview™ NX2 光学轮廓仪是为更高应用需求设计的,集超精密、算法、应用灵活性和自动化为一体,展现了ZYGO相干扫描干涉(CSI)技术的能力。
Nexview™ NX2 光学轮廓仪采用的是非接触式测量技术,具有亚纳米测量精度(所有放大倍数下),可以更快更好地测量各种样品表面,是一款具有非常高投资回报率的产品。满足各种应用需求,包括平面度,粗糙度和波纹度,薄膜,台阶高度,适用于几乎任何材质表面,因此Nexview NX2是一款不容错过的产品。
Nexview NX2作为一代的旗舰机型,提供更大范围可分辨特征来实现让用户的计量更好、更快和更可靠:
• 大面积1.9 MP传感器:高灵敏度,在单次测量中获取更多的信息
• 高速测量:只需几秒时间,优化的测试能力和程序控制
• 自动零件聚焦和定位:减少操作员测试差异,提高培训和测试效率
• 重复性特征:优异的测量精度和可重复性,为高要求的生产应用提供服务
• 抗震计量: SureScan抗震技术,在震动环境下也可实现高质量的计量
• SmartPSI™技术:对超光滑表面进行快速分析测量
• 2D和3D的相关性:测量结果符合ISO 25178和ISO 4287标准。
• Mx™软件:实现仪器控制、分析和测量自动化
• 真彩色图像:增强可视化效果
• 可变图像缩放:三个内置变焦镜头,优化视场以及实现仪器的灵活性
SiC测试结果,清晰看清水晶纹路和抛光过程痕迹
Mx 软件界面
全自动200mm集成测试平台
你所需要的光学轮廓仪
您不用再根据你要测量的样品表面类型来选择轮廓仪。Nexview NX2轮廓仪可以测量不同类型的样品表面,包括精密抛光光学样品表面(亚埃级sub-Angstrom表面粗糙度),到陡峭加工角度(85度)。所有测试都是三维、非接触式测量,提供非常优质的测量结果。
分析&控制软件
Nexview NX2轮廓仪使用ZYGO Mx™软件,支持完整系统控制和数据分析,包括丰富的交互式3D绘图,量化的形貌信息,直观的测量导航以及内置的SPC统计,质量控制图,通过/失败条件设置。
• 交互式3D绘图:缩放,平移,旋转,并实时更新结果。
• 灵活分析:一系列定量分析结果、数据视图和过滤器。
• 直观的用户界面:易于学习和使用的流程界面设计。
• 内置SPC分析工具:跟踪结果,监控合格和不合格的标准,跟踪处理数据。
还有满足特殊应用需求的应用程序模块,如透明薄膜的样品测量,2D图像分析等。
自动化操作
Nexview NX2轮廓仪是电子化设备,无需手动控制,可以自动化编程序列测量多个零件,菜单化零件测量,以及零件表面大尺寸拼接测试。
简洁,流线型设计
Nexview NX2轮廓仪有很大的工作区域,测试界面条理清晰,使测量设置和操作简单&快速。
其200毫米自动化测量平台是简洁高效的工业化设计的缩影,并具有 ±4度高负载倾斜功能包含校正运算—这使得测量调整变得十分简单,甚至对于表面特征不明显的样品。