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高低温 集成电路IC芯片温度冲击测试机
¥11111冲击试验箱 导通电阻测试系统方案
¥11111冷热冲击试验箱 导通电阻测试系统方案
¥11111电子元器件高低温在线测试系统
¥11111芯片动态老化测试系统
¥11111芯片老化测试Small Burn-in Test system
¥11111可替代国外的 接触式芯片高低温测试设备
¥11111替代国外接触式芯片高低温测试设备
¥8888热流仪搭配Keysight进行功率器件高低温测试
¥11111热流仪搭配液晶显示屏测量高低温系统试验
¥88888探针台卡盘CHUCK高低温晶圆卡盘
¥88888MPI TS3000探针台测试系统维修改造升级服务
¥9999工业恒温控温热流仪热流罩气流仪
ThermoTST HTS200高温冲击气流仪用于电子元件或非其他模块及器件的快速温度循环冲击,进行温度特性和器件表征测试; HTS200的温度范围常温(进气温 度)至+ 200°C。经长期的多工况验证,满足各类生产环境和工程环境的要求。
工业恒温控温热流仪热流罩气流仪 特点
温度范围,常温(进气温度)至+225℃
触摸屏操作,人机交互界面
快速DUT温度稳定时间
温控精度±1℃,显示精度±0.1℃
紧凑的设计,很大限度地减少占地面积的要求
jing音设计,满足工作环境的舒适度。
工业恒温控温热流仪热流罩气流仪 应用
产品的特性分析、高低温温变测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验,如:
芯片、微电子器件、集成电路
(SOC、FPGA、PLD、MCU、ADC/DAC、DSP等)
闪存Flash、UFS、eMMC
PCBs、MCMs、MEMS、IGBT、传感器、小型模块组件
光通讯(如:收发器 Transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等)
其它电子行业、航空航天新材料、实验室研究
工业恒温控温热流仪热流罩气流仪
技术规格
温度范围 | 常温(进气温度) 至 + 225 ºC |
典型温度转换率 | 常温至 + 125 ºC约10秒 |
温控精度 | ± 1 ºC |
出气流量 | 3 ~ 10SCFM(1.4L/s ~ 4.7L/s) |