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高低温 集成电路IC芯片温度冲击测试机
¥11111冲击试验箱 导通电阻测试系统方案
¥11111冷热冲击试验箱 导通电阻测试系统方案
¥11111电子元器件高低温在线测试系统
¥11111芯片动态老化测试系统
¥11111芯片老化测试Small Burn-in Test system
¥11111可替代国外的 接触式芯片高低温测试设备
¥11111替代国外接触式芯片高低温测试设备
¥8888热流仪搭配Keysight进行功率器件高低温测试
¥11111热流仪搭配液晶显示屏测量高低温系统试验
¥88888探针台卡盘CHUCK高低温晶圆卡盘
¥88888MPI TS3000探针台测试系统维修改造升级服务
¥9999超高速高低温气流冲击机 ThermoTST TS-760是一台精密的高低温冲击气流仪,具有更广泛的温度范围-70℃到+225℃,提供了非常*的温度转换测试能力。温度转换从-55℃到+125℃之间转换约10秒 ; 经长期的多工况验证,满足各类生产环境和工程环境的要求。该机型是纯机械制 冷,无需液氮或任何其他消耗性制冷剂。
超高速高低温气流冲击机 应用
特性分析、高低温温变测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验,如: 芯片、微电子器件、集成电路 (SOC、FPGA、PLD、MCU、ADC/DAC、DSP等) 闪存Flash、UFS、eMMC 其它电子行业、航空航天新材料、实验室研究 光通讯(如:收发器 Transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等) PCBs、MCMs、MEMS、IGBT、传感器、小型模块组件
特点
温度变化速率快,-55℃至 +125℃之间转换约10秒
有效温度范围, -70℃至+225℃±0.1℃
结构紧凑,移动式设计
温控精度±1℃,显示精度
气流量可高达18SCFM
快速DUT温度稳定时间
触摸屏操作,人机交互界面
除霜设计,快速清除内部的水汽积聚
测试标准
满足美国标准MIL体系测试标准
满足国内元件GJB体系测试标准
满足JEDEC测试要求