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高低温 集成电路IC芯片温度冲击测试机
¥11111冲击试验箱 导通电阻测试系统方案
¥11111冷热冲击试验箱 导通电阻测试系统方案
¥11111电子元器件高低温在线测试系统
¥11111芯片动态老化测试系统
¥11111芯片老化测试Small Burn-in Test system
¥11111可替代国外的 接触式芯片高低温测试设备
¥11111替代国外接触式芯片高低温测试设备
¥8888热流仪搭配Keysight进行功率器件高低温测试
¥11111热流仪搭配液晶显示屏测量高低温系统试验
¥88888探针台卡盘CHUCK高低温晶圆卡盘
¥88888MPI TS3000探针台测试系统维修改造升级服务
¥9999zonglen 高低温冲击气流仪
的性能达到了更高的标准。TS-780以 速度、精度和可靠性作为基本设计标准, 提供了非常*的温度测试能力。温度转 换从-55℃到+125℃之间转换约10秒,并 有更广泛的温度范围-80℃到+225℃; 经 长期的多工况验证,满足更多生产环境和 工程环境的要求。TS-780是纯机械制 冷,无需液氮或任何其他消耗性制冷剂。
zonglen 高低温冲击气流仪 应用
特性分析、高低温温变测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验,如:芯片、微电子器件、集成电路(SOC、FPGA、MCU、PLD、ADC/DAC、DSP等)闪存Flash、UFS、eMMCPCBs、MCMs、MEMS、IGBT、传感器、小型模块组件光通讯(如:收发器 Transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等)其它电子行业、航空航天新材料、实验室研究
特点
温度变化速率快,-55℃至+125℃之间转换约10秒
有效温度范围,-80℃至+225℃
结构紧凑,移动式设计·触摸屏操作,人机交互界面
快速DUT温度稳定时间·温控精度±1℃,显示精度±0.1℃
气流量可高达18SCFM
除霜设计,快速清除内部的水汽积聚
测试标准
满足美国标准MIL体系测试标准
满足国内元件GJB体系测试标准
满足JEDEC测试要求