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高低温 集成电路IC芯片温度冲击测试机
¥11111冲击试验箱 导通电阻测试系统方案
¥11111冷热冲击试验箱 导通电阻测试系统方案
¥11111电子元器件高低温在线测试系统
¥11111芯片动态老化测试系统
¥11111芯片老化测试Small Burn-in Test system
¥11111可替代国外的 接触式芯片高低温测试设备
¥11111替代国外接触式芯片高低温测试设备
¥8888热流仪搭配Keysight进行功率器件高低温测试
¥11111热流仪搭配液晶显示屏测量高低温系统试验
¥88888探针台卡盘CHUCK高低温晶圆卡盘
¥88888MPI TS3000探针台测试系统维修改造升级服务
¥9999zonglen气流仪BGA芯片高低温测试冲击机
ThermoTest TS-790高低温冲击气流仪的性能达到了*的标准。TS-790以速度、精度和可靠性作为基本设计的标准,能提供了非常*的温度测试能力。温度转换从-55℃到+125℃之间转换仅需10秒,并有更广泛的温度范围-90℃到+225℃;经长期的多工况验证,能满足更多生产环境和工程环境的要求。TS-790是纯机械制冷,无需液氮或任何其他消耗性制冷剂。
zonglen气流仪BGA芯片高低温测试冲击机应用
特性分析、高低温温变测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验,如:芯片、微电子器件、集成电路(SOC FPGA、PLD、MCU、ADC/DAC、DSP等)闪存Flash、UFS、eMMC PCBs、MCMs、MEMS、IGBT、传感器、小型模块组件光通讯(如:收发器 Transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等)其它电子行业、航空航天新材料
特点
温度变化速率快,-55℃至+125℃之间转换仅需10秒
极宽的温度范围, -90 ℃至+225℃
结构紧凑,移动式设计
触摸屏操作,人机交互界面
快速DUT温度稳定时间
温控精度±1℃,显示精度±0.1℃
气流量高达18SCFM
除霜设计,快速清除内部的水 汽 积聚
测试标准
满足美用标准MIL体系测试标准
满足国内元件GJB体系测试标准
满足JEDEC测试要求
技术规格
温度范围; -90 ºC 至 + 225 ºC
典型温度转换率; -55 ºC 至 + 125 ºC ;≤10秒
温控精度; ± 1 ºC
显示/设置精度 ;± 0.1 ºC
系统气流量; 4 ~ 18 SCFM(1.9L/s ~ 8.5L/s)