集成电路IC芯片温度冲击测试机气流仪

高低温冲击气流仪的性能达到了更高的标准。TS-580以速度、精度和可靠性作为基本设计标准，提供了非常*的温度测试能力。温度转换从-55℃到+125℃之间转换约10秒，并有更广泛的温度范围-80℃到+225℃; 经长期的多工况验证，满足更多生产环境和工程环境的要求。TS-580是纯机械制冷，无需液氮或任何其他消耗性制冷剂。

应用

　　特性分析、高低温温变测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验，如：芯片、微电子器件、集成电路（SOC、FPGA、MCU、PLD、ADC/DAC、DSP等）闪存Flash、UFS、eMMCPCBs、MCMs、MEMS、IGBT、传感器、小型模块组件光通讯（如：收发器 Transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等）其它电子行业、航空航天新材料、实验室研究

集成电路IC芯片温度冲击测试机气流仪特点

　　温度变化速率快，-55℃至+125℃之间转换约10秒

　　有效温度范围，-80℃至+225℃

　　结构紧凑，移动式设计·触摸屏操作，人机交互界面

　　快速DUT温度稳定时间·温控精度±1℃，显示精度±0.1℃

　　气流量可高达18SCFM

　　除霜设计，快速清除内部的水汽积聚

测试标准

　　满足美国标准MIL体系测试标准

　　满足国内元件GJB体系测试标准

　　满足JEDEC测试要求