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高低温 集成电路IC芯片温度冲击测试机
¥11111冲击试验箱 导通电阻测试系统方案
¥11111冷热冲击试验箱 导通电阻测试系统方案
¥11111电子元器件高低温在线测试系统
¥11111芯片动态老化测试系统
¥11111芯片老化测试Small Burn-in Test system
¥11111可替代国外的 接触式芯片高低温测试设备
¥11111替代国外接触式芯片高低温测试设备
¥8888热流仪搭配Keysight进行功率器件高低温测试
¥11111热流仪搭配液晶显示屏测量高低温系统试验
¥88888探针台卡盘CHUCK高低温晶圆卡盘
¥88888MPI TS3000探针台测试系统维修改造升级服务
¥9999热流仪高低温循环测试系统热流罩
ThermoTST TS325是一台精密的高低温冲击气流仪,具有的温度范围-25℃到+225℃,提供了很强的温度转换测试能力。温度转换从-25℃到+125℃之间转换约15秒 ; 紧凑型及低噪音的设计,满足桌面式应用。
热流仪高低温循环测试系统热流罩 特点
温度范围,-25℃至+225℃
触摸屏操作,人机交互界面
快速DUT温度稳定时间
温控精度±1℃,显示精度±0.1℃
紧凑的设计,很大限度地减少占地面积的要求
jing音设计,满足工作环境的舒适度。
热流仪高低温循环测试系统热流罩 应用
产品的特性分析、高低温温变测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验,如:
芯片、微电子器件、集成电路
(SOC、FPGA、PLD、MCU、ADC/DAC、DSP等)
闪存Flash、UFS、eMMC
PCBs、MCMs、MEMS、IGBT、传感器、小型模块组件
光通讯(如:收发器 Transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等)
其它电子行业、航空航天新材料、实验室研究
热流仪高低温循环测试系统热流罩 技术规格
有效温度范围 | -25 ºC 至 + 225 ºC |
典型温度转换率 | -25 ºC 至 + 125 ºC约15秒 |
温控精度 | ± 1 ºC |
出气流量 | 3 ~ 10SCFM(1.4L/s ~ 4.7L/s); 选配:3~12SCFM(1.4L/S~5.6L /S) |
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