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高低温 集成电路IC芯片温度冲击测试机
¥11111冲击试验箱 导通电阻测试系统方案
¥11111冷热冲击试验箱 导通电阻测试系统方案
¥11111电子元器件高低温在线测试系统
¥11111芯片动态老化测试系统
¥11111芯片老化测试Small Burn-in Test system
¥11111可替代国外的 接触式芯片高低温测试设备
¥11111替代国外接触式芯片高低温测试设备
¥8888热流仪搭配Keysight进行功率器件高低温测试
¥11111热流仪搭配液晶显示屏测量高低温系统试验
¥88888探针台卡盘CHUCK高低温晶圆卡盘
¥88888MPI TS3000探针台测试系统维修改造升级服务
¥9999(售价仅供参考)
ThermoTST气流仪 超高速高低温气流冲击机 TS-580B
的性能达到了更高的标准。TS-580B以速度、精度和可靠性作为基本设计标准,提供了非常*的温度测试能力。温度转换从-55℃到+125℃之间转换约10秒,并有更广泛的温度范围-80℃到+225℃; 经长期的多工况验证,满足更多生产环境和工程环境的要求。TS-580B是纯机械制冷,无需液氮或任何其它消耗性制冷剂。
特点
· 温度变化速率快,-55℃至+125℃之间转换仅需约10秒
· 广泛的温度范围,-80℃至+225℃
· 结构紧凑,移动式设计
· 触摸屏操作,人机交互界面
· 快速DUT温度稳定时间
· 温控精度±1℃,显示精度±0.1℃
· 气流量可高达24SCFM
· 除霜设计,快速清除内部的水 汽 积聚
ThermoTST气流仪 超高速高低温气流冲击机 TS-580B应用
特性分析、高低温温变测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验,如:
半导体芯片
闪存Flash/EMMC
PCBs、IC器件、MCMs、小型模块组件
光通讯(如收发器 Transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等