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高低温 集成电路IC芯片温度冲击测试机
¥11111冲击试验箱 导通电阻测试系统方案
¥11111冷热冲击试验箱 导通电阻测试系统方案
¥11111电子元器件高低温在线测试系统
¥11111芯片动态老化测试系统
¥11111芯片老化测试Small Burn-in Test system
¥11111可替代国外的 接触式芯片高低温测试设备
¥11111替代国外接触式芯片高低温测试设备
¥8888热流仪搭配Keysight进行功率器件高低温测试
¥11111热流仪搭配液晶显示屏测量高低温系统试验
¥88888探针台卡盘CHUCK高低温晶圆卡盘
¥88888MPI TS3000探针台测试系统维修改造升级服务
¥9999Thermal system高温气流循环冲击系统 HTS280是一台精密的高 温冲击气流仪,具有更广的温度范围 常温(进气温度)到+280℃,提供了 非常*的温度转换测试能力。温度转 换从常温到+125℃之间转换约10秒 ;
经长期的多工况验证,满足各类生产环 境和工程环境的要求。
Thermal system高温气流循环冲击系统 HTS280应用
特性分析、高低温温变测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验,如: 芯片、微电子器件、集成电路 (SOC、FPGA、PLD、MCU、ADC/DAC、DSP等) 闪存Flash、UFS、eMMC PCBs、MCMs、MEMS、IGBT、传感器、小型模块组件 光通讯(如:收发器 Transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等) 其它电子行业、航空航天新材料、实验室研究
特点
· 温度变化速率快,常温至 +125℃之间转换约10秒
· 温度范围, 常温(进气温度)至+280℃
· 结构紧凑,移动式设计
· 触摸屏操作,人机交互界面
· 快速DUT温度稳定时间
· 温控精度±1℃,显示精度 ±0.1℃
· 气流量可高达18SCFM
· 除霜设计,快速清除内部的水汽积聚