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白光光谱干涉测量原理
STIL干涉位移传感器计算基于白光干涉光谱分析（SAWLI）原理，它通过分析由分光仪获得的干涉波形来测量参照板与标的物之间的空气层间隙。其*性在于将参照版与标的物固定为一个整体，因为参照板和标的物是一个整体，当测量设备有震动的时候，这个整体的两个部分的距离不会发生任何变化，从而达到有效防止机构震动对测量结果的影像。
此干涉信号是一个通道截止光谱，通过采用七步相移算法对干涉光谱进行计算，使传感器获得亚纳米的测量分辨率。
控制器技术规格
| 测量频率 | 2000HZ |
| 波长范围 | 400-900nm |
| 光谱分辨率 | 0.63nm/pixel |
| 光源 | 卤素灯 |
| 信号输出 | 网口/RS232 |
| 外部触发I/O | 1input(TTL)/1 output(TTL) |
| 光纤线 | E2000(标准或铠甲） |
| 相对湿度 | 5%-80% HR无冷凝 |
| 工作温度 | 5-50℃ |
| 外观尺寸 | 376mm*363mm*114mm |
| 重量 | 6KG |
| 测量模式： 距离/厚度 | 1、光谱共焦测量 2、光谱干涉测量 |
测量头技术参数
| OPILB Line | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 型号 | OPILB-RP | OPILB-LWD-D | OPILB-LWD-T | OPILB | ||||
| 测量模式 | 位移 | 位移 | 厚度 | 厚度 | ||||
| 量程（μm） | 135 | 135 | - | - | ||||
| 工作距离（mm） | 9.7 | 4.6 | 9.2 | 42 | ||||
| 可测倾角（°） | ±17 | ±17 | ±17 | ±5.4 | ||||
| 参考板(1) | Yes | No | No | No | ||||
| 放大器型号 | MG210 | MG140 | MG210 | MG140 | MG70 | MG35 | MG20 | - |
| 光斑尺寸（μm）(3) | 3.8 | 5.7 | 3.8 | 5.7 | 11.4 | 22.9 | 40.2 | 32 |
| 横向分辨率（μm）(2) | 1.9 | 2.8 | 1.9 | 2.8 | 5.7 | 11.4 | 20 | 20 |
| 外形尺寸 | ||||||||
| 长(mm)(4) | 200 | 164 | 200 | 164 | 131 | 100 | 84 | 145.5 |
| 直径(mm)(4) | 27 | 27 | 27 | 27 | 27 | 27 | 27 | 27 |
| 重量(g) | 200 | 127 | 200 | 127 | 126 | 67 | 52 | 155 |
| 性能参数 | ||||||||
| 位移模式 | ||||||||
| 静态噪音(nm)(5) | 0.5 | 2 | - | - | ||||
| 精度（nm）（6） | 10 | 10 | ||||||
| 粗糙度测量(7) | NR | NR | ||||||
| 厚度模式 | ||||||||
| 最小可测厚度（μm）(8) | - | - | - | - | 0.4 | 0.4 | 0.4 | 0.4 |
| 可测厚度（μm(8)） | - | - | - | - | 90 | 90 | 90 | 90 |
| 静态噪音(nm)(5) | - | - | - | - | 0.3 | 0.3 | 0.3 | 0.3 |
| 精度（nm）（6 | - | - | - | - | 10 | 10 | 10 | 10 |
(1)参考板直接放在样品上。OPILB-RP的参考板作为参考。它弥补了扫描系统的机械缺陷
(2)横向分辨率定义为光斑直径的一半
(3)在量程中心位置测量的光斑尺寸，无衍射(参考值)
(4)长度和重量不包含光纤线
(5)在静态样本上测量的RMS噪声水平。在位置的样品上，以速采样频率进行测定
(6)精度是在整个测量范围内观察到的误差，是通过和1nm精度的编码器比较校准
(7)R=推荐用于测量金属样品(这些样品可以用完整的性能进行测量);NR=不建议测量金属样品(这些样品可以测量，但性能降低)
(8)在的速度下，测量范围的中心，测量的典型值，不加平均。折射率=1.5个样本（测量空气间隙应除以1 5的厚度时）；
注：以上参数如有变化，恕不另行通知。
测量应用案例
采用光谱干涉传感器位移模式测量
采用光谱干涉传感器厚度模式测量
