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日立 超高分辨率场发射扫描电子显微镜SU9000
面议日立 超高分辨场发射扫描电子显微镜SU8600系列
面议日立 超高分辨肖特基场发射扫描电子显微镜SU8700
面议日立 热场式场发射扫描电镜SU5000
面议日立 扫描电子显微镜 FlexSEM 1000 II
面议日立 超高分辨肖特基场发射扫描电镜SU7000
面议日立 TM系列专用能谱仪(EDS)AZtec系列
面议日立 TM系列专用能谱仪(EDS) Quantax75
面议日立 离子研磨仪ArBlade 5000
面议日立 台式显微镜 TM4000II/TM4000PlusII
面议日立 扫描电子显微镜SU3800/SU3900
面议日立 离子研磨仪 IM4000II
面议产品介绍:
现有机型SU8240,SU8230,SU8220及SU8010重新整合,衍生而成Regulus8240、Regulus8230、Regulus8220、Regulus8100。
"Regulus系列"继承了现有机型的观察和分析性能,配备SU8200系列的低噪音冷场发射电子枪*1,可以获得高稳定的束流。
通过优化电子光学系统,Regulus8240/8230/8220在1 kV条件下分辨率提高到0.7 nm,Regulus8100的分辨率提高到0.8 nm。
此外,为充分发挥超高分辨的能力,放大倍率也从过去的100万倍提升到200万倍*1。
Regulus8240/8230/8220/8100还完善了用户支持功能,通过此功能用户更容易理解各种复杂信号的检测原理,帮助用户充分发挥仪器的性能。
*1 Regulus8240/8230/8220
产品特点:
沿用"SU8200系列"的冷场发射电子枪*2
采用电子束在Flashing后出现的高亮度稳定区域作为稳定观察的区间,使得低加速电压条件下兼备高分辨观察和分析的性能
(Regulus8240/8230/8220: 0.7 nm/1 kV、Regulus8100: 0.8 nm/1 kV)
采用污染小、高真空样品仓
运用能量过滤器(选配),可观察到多种成分对比度*2
产品规格:
项目 | Regulus 8100 | Regulus 8220 | Regulus 8230 | Regulus 8240 | ||
二次电子分辨率 | 0.7 nm (加速电压15 kV) | 0.6 nm(加速电压 15 kV) 0.7 nm(着陆电压 1 kV)*3 | ||||
0.8 nm (着陆电压1 kV)*3 | ||||||
着陆电压 | 0.1~2 kV | 0.01~20 kV | ||||
放大倍率 | 20~1,000,000倍*4 | 20~2,000,000倍*4 | ||||
样 品 台 | 样品台控制 | 3轴马达台(可选5轴马达台) | 5轴马达驱动 | |||
移 动 范 围 | X | 0~50 mm | 0~50 mm | 0~110 mm | 0~110 mm | |
Y | 0~50 mm | 0~50 mm | 0~110 mm | 0~80 mm | ||
R | 360° | |||||
T | -5~70° | |||||
Z | 1.5~30 mm | 1.5~40 mm | ||||
再现性 | - | - | - | ±0.5 µm以下含 | ||
±0.5 µm |
*3 减速模式下观察