品牌
其他厂商性质
上海市所在地
日立 超高分辨率场发射扫描电子显微镜SU9000
面议
日立 超高分辨场发射扫描电子显微镜SU8600系列
面议
日立 超高分辨场发射扫描电子显微镜Regulus系列
面议
日立 超高分辨肖特基场发射扫描电子显微镜SU8700
面议
日立 热场式场发射扫描电镜SU5000
面议
日立 扫描电子显微镜 FlexSEM 1000 II
面议
日立 超高分辨肖特基场发射扫描电镜SU7000
面议
日立 TM系列专用能谱仪（EDS）AZtec系列
面议
日立 离子研磨仪ArBlade 5000
面议
日立 台式显微镜 TM4000II/TM4000PlusII
面议
日立 扫描电子显微镜SU3800/SU3900
面议
日立 离子研磨仪 IM4000II
面议产品介绍：
操作简单且直观
*:和TM4000Plus搭配应用实例
*:探测器内置型
(制造商: 德国Bruker nano GmbH)
产品特点：
通过简单操作即可迅速获取彩色X射线面分布
移动到位置，可实时确认其谱图
双屏显示
仅需选择图像和模板，即可在生成Word?、Excel?、面分布信息的同时，实时显示点分析、线分析结果等多种分析。
超高的性能（hyper map）成就了一次测试即可获取点分析、线分析、面分布结果
点分析
可根据点位置移动实时追踪谱图，轻松确认目标元素。
实时在线谱峰剥离面分布
分离出常规面分布图像中的谱峰重叠元素，并显示正确结果。
产品规格：
| 项目 | 内容 |
| 探测器类型 | 硅漂移探测器 |
| 探测器面积 | 30 mm² |
| 能量分辨率 | 148 eV (Cu-Kα) (Mn-Kα时不高于129 eV) |
| 可检测元素 | B5～Cf98 |
