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微焦点X射线检查系统 XslicerSMX-6000
面议XDimensus 300 测量用X射线CT系统
面议TQC VF2246 流平流挂器
面议UVmini-1285 紫外分光光度计
面议UVmini-1280 紫外分光光度计
面议UV-2600/2700 研究级的分光光度计 紫外分光光度计
面议UV-1900i 双光束紫外可见分光光度计
面议UV-1780 紫外可见分光光度计
面议微焦点X射线CT系统 inspeXio SMX-90CT Plus
面议微焦点X射线检查装置 SMX-800
面议SMX-350M/FI-350M X-ray检查装置(透视)
面议SMX-312M/FI-312M X-ray检查装置(透视)
面议特殊定制A-CMOS传感器可带来突破的仪器性能
1、采用全新科研级A-CMOS感光元件,带来更好的灵敏度。
2、定制8192像素检测器,提升检测系统光学分辨率。
3、采用OEO (Optimal Element-Oriented)技术,可对任意像 素位置信号单独提取,实现每个元素独立参数优化与采集分析。
4、A-CMOS传感器紫外波段元素(C、P、S、N)灵敏度更高。
特定算法,实现A-CMOS优异检测性能
1、OEO、RTMC算法,更好的发挥A-CMOS检测性能。
2、智能匹配火花放电波形,实现不同特性元素的检测效果。
3、智能消除背景干扰,实现分析性能。
4、ASR技术,剥离异常火花,提升分析精度。