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微焦点X射线检查系统 XslicerSMX-6000
面议XDimensus 300 测量用X射线CT系统
面议TQC VF2246 流平流挂器
面议微焦点X射线CT系统 inspeXio SMX-90CT Plus
面议微焦点X射线检查装置 SMX-800
面议SMX-350M/FI-350M X-ray检查装置(透视)
面议SMX-312M/FI-312M X-ray检查装置(透视)
面议SMX-3100M/FI-3100M X-ray检查装置(透视)
面议inspeXio SMX-225CT系列 微焦点X射线CT系统
面议inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus 微焦点X射线CT系统
面议微焦点X射线CT系统 InspeXio SMX-100CT
面议微焦点X射线透视检查装置 SMX-1000 Plus/1000L Plus
面议近红外检测
通过配置ISR-2600双检测器积分球,将传统仪器模式下的300 nm ~ 1100 nm波长范围扩展至1400nm。因此,UV-2600可进行太阳能电池防反射膜和多晶硅硅片的测量。
右图:宽测定波长范围
使用ISR-2600Plus测定多晶硅片的透过率
此图是多晶硅样品的透过率谱图,由于系统具有测定到1400nm的能力,清晰显示了带隙区域(1000nm附近)的透过率特征。
使用ISR-2600Plus积分球测定减反射膜的相对漫反射率
此图是减反膜的反射率谱图。使用相对反射附件,系统可以实现从深紫外到近红外区域的测定,可清晰显示在可见区被抑制的反射率。
可进行8-Abs检测
UV-2700实现了超低杂散光,扩展测定范围至8Abs,透过率0.000001%。除了测定高浓度样品不需要稀释外,此系统还能用于评价偏振膜的透过率性能。
高锰酸钾溶液浓度和吸光度的线性曲线。直到8Abs都有好的线性。
高锰酸钾水溶液的光谱比较
此图是高锰酸钾水溶液的光谱图,有别于原机型,此系统具有高水平吸光度测定能力。
使用岛津技术的Lo-Ray-Ligh等级衍射光栅使UV-2700具有高的精度。在衍射光栅生产过程中,新的生产方法应用到岛津全息光栅技术上。通过优化蚀刻工艺,在保持高效率的同时,我们成功生产出超低杂散光的衍射光栅。在使用配备Lo-Ray-Ligh等级衍射光栅的光学系统,UV-2700达到了超低杂散光水平。
尺寸缩小,能耗降低
由于应用了新型设计理念,与传统的仪器机型相比,此仪器的安装空间缩小了28%。除此之外,用于散热的风扇放置于单独空间。通过放置在相关的,高效利用有限的光学空间。另外,能耗降低至170,节能10%,使系统更环保。
* Conventional model: UV-2450/2550 传统机型: UV-2450/2550
左图:与传统机型相比,尺寸减少了28%
硬件确认软件标配以支持GLP/GMP
硬件确认软件可协助进行装置性能的检查,并记录检查结果。之前作为选配的硬件确认软件已标配于UV-2600/2700主机,因此在日常检查或注重数据精度时可容易地进行仪器性能检测。
检查数据不仅可以打印,还可以保存成文档,以便今后确认。每个时期及常规检查的条件也可以保存成文档,以便今后调用。
可使用JIS K0115“分子吸收分析通用规则”中的性能检测标准品进行仪器性能的检查,也可以使用日本药典通用测定方法或EP和USP检查方法。(需要单独准备检查工具和试剂)
多功能,用户友好界面UVProbe软件
UVProbe是具有多种功能,可轻松实现从测定到报告的一体化软件。另外,符合GLP/GMP要求的功能,比如安全性及可追踪性,得到加强。