品牌
其他厂商性质
所在地
微焦点X射线检查系统 XslicerSMX-6000
面议
XDimensus 300 测量用X射线CT系统
面议
TQC VF2246 流平流挂器
面议
UVmini-1285 紫外分光光度计
面议
UVmini-1280 紫外分光光度计
面议
UV-2600/2700 研究级的分光光度计 紫外分光光度计
面议
UV-1900i 双光束紫外可见分光光度计
面议
UV-1780 紫外可见分光光度计
面议
微焦点X射线CT系统 inspeXio SMX-90CT Plus
面议
微焦点X射线检查装置 SMX-800
面议
SMX-350M/FI-350M X-ray检查装置(透视)
面议
SMX-312M/FI-312M X-ray检查装置(透视)
面议
SP1100破坏性干膜测厚仪产品简介SP1100破坏性测厚仪是用铝钛合金制成的精密的破坏性涂层厚度测量仪器，主要用于检查和测量单/多涂层的底材(事实上全部)的涂层厚度，包括：木材，塑料，金属等的涂层厚度测量。也可以用于评估和测量基材和涂层的缺陷。Super-PIG在涂层上切个小切口，借助LED照明显微镜测量网格测量切口，减少计算。*的旋转系统包含三个不锈钢切刀和一个横切刀。
