Thermo Scientific-用于材料科学的 Helios™ G4 PFIB CXe DualBeam™ FIB/SEM-赛默飞世尔科技（中国）有限公司手机版

Thermo Scientific用于材料科学的 Helios™ G4 PFIB CXe DualBeam™ FIB/SEM

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准

2024-08-11 09:22:14: 151

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产品简介

Thermo Scientific Helios G4 PFIB 可提供优异的大体积 3D 表征、无 Ga+ 样品制备和精密微加工能力。Helios G4 PFIB CXe 是行业的 Helios DualBeam 系列第四代产品的一部分。它将新型 PFIB 2.0 镜筒和 Thermo Scientific 单色 Elstar SEM 镜筒相结合，可实现的聚焦离子和电子束性能。直观的......

详细介绍

Helios G4 PFIB CXe DualBeam 使您能够：

使用新一代 2.5 μA 氙等离子体 FIB (PFIB 2.0) 镜筒，可进行高质量、大容量 3D 表征、横向切片和微加工。
使用可选配的 FEI Auto Slice & View™ 4 (AS&V4) 软件，可提供多模态亚表面和 3D 信息，精确瞄准目标区域。
由于 PFIB 2.0 镜筒在所有操作条件下均具有的性能且有 TEM 样品制备工作流程的指导，因此可制备高质量的无 Ga+ TEM 样品。
凭借具有高电流 UC+ 单色器技术的 Elstar™ SEM 电子镜筒，可以在低能量下实现亚纳米性能，从而显示较为细致的细节信息。
由于高度灵活的 110 mm 载物台，可根据个体应用需求定制精确的样品导航。