用于半导体的 Helios G4 CX DualBeam

Thermo Scientific用于半导体的 Helios G4 CX DualBeam

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-08-11 09:22:32
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赛默飞世尔科技(中国)有限公司

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产品简介

通常需要进行亚表面或三维表征以更好地理解样品的结构和性质。Thermo Scientific Helios G4 CX DualBeam 显微镜的创新,结合较易使用、较全面的软件和赛默飞世尔科技的应用专业知识,使 Helios G4 CX DualBeam 与可选的 AS&V4 软件可获得较高质量、全自动采集的多模态 3D 数据集。结合 Avizo 可视化软件,它可提供的工作流程解决方......

详细介绍

体验 Helios G4 CX DualBeam 的优点

  • 使用 Tomahawk 离子镜筒可较快和较容易地制备高质量、位点特异性 TEM 和 APT 样品
  • 使用同类较佳 Elstar™ 电子镜筒获得纳米级信息的时间较短
  • 可通过多达 7 个集成在镜筒内和透镜下的集成检测器获得具有清晰、精确且无电荷的对比度的较完整样品信息
  • 使用可选的 Auto Slice & View™ 4 (AS&V4) 软件,可提供较高质量、多模态亚表面和 3D 信息,较精确地瞄准目标区域。
  • 对复杂结构进行快速、准确、精确的铣削和沉积,临界尺寸小于 10 nm
  • 由于高度灵活的 110 mm 载物台和腔内 Nav-Cam,可根据个体应用需求定制精确的样品导航
  • 基于集成样品清洁度管理和专用成像模式(如 SmartScan™),可实现无伪影成像

特色文档

Helios G4 CX DualBeam 数据表

Helios G4 CX 是行业的 Helios DualBeam™ 系列第四代产品的一部分。它经过精心设计,以满足科学家和工程师的需求,结合了创新的 Elstar 电子镜筒(可实现较高分辨率成像和较高的材料对比度)与的 Tomahawk 离子镜筒(用于较快、较容易和较精确的高质量样品制备),并可进行 3D 表征,甚至对较具挑战性的样品也适用。

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