TRd 2015IGBT动态参数开关短路反向恢复测试

IGBT动态参数开关短路反向恢复测试
系统概述
IGBT是广泛应用于现代中、大功率变换器中的主流半导体开关器件，其开关特性决定装置的开关损耗、功率密度、器件应力以及电磁兼容性，直接影响变换器的性能。因此准确测量功率开关元件的开关性能具有极其重要的实际意义。 参考价面议

ST-SP 2001测试范围广 19大类，27分类 功率器件测试仪

测试范围广 19大类，27分类 功率器件测试仪
应用领域：院所、高校、半导体器件生产厂商、电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、
新能源汽车、轨道机车检修等
设备用途
测试分析、器件选型、筛选检验、生产线自动批量测试等 参考价面议

ST-SP 2000半导体测试仪 MOS管IGBT等器件静态参数

半导体测试仪 MOS管IGBT等器件静态参数
本系统可自动生成功率器件的I-V曲线，也可根据客户的实际需求设置功能测试，直接读取数显结果。系统在失效分析，IQC来料检验及高校实验室等部门有广泛的应用。系统生成的曲线都使用ATE系统逐点建立，保证了数据的准确可靠。系统典型的测试时间是6 to 20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来，数据捕获的曲线可导 参考价面议

ST-SP_X晶闸管综合测试仪

晶闸管综合测试仪测试范围：
1. 门极参数测试：VGT、IGT
2. 维持电流测试：IH
3. 擎住电流测试：IL
4. 阻断参数测试：VD、VR 、ID、IR
5. 压降参数测试：VTM、ITM 、Vr、Ir、Vf、If、
6. 电压上升率参数测试：dv/dt
7. 关断时间参数测试：Tq
8.恢复电荷参数测试：Qrr、Irr、Trr 参考价面议

ST-SP_XIGBT静态全参数测试系统

IGBT静态全参数测试系统可测IGBT参数包括了ICES, BVCES, IGESF, IGESR, VGETH, VGEON, VCESAT, ICON,VF, GFS,r CE等全直流参数, 所有小电流指标保证1%重复测试精度, 大电流指标保证0.5%以内重复测试精度, 达到目前国外进口同类产品优质水平。 参考价面议

ST-SP3312IGBT参数测试仪器

IGBT参数测试仪器，用于测试MOSFETs, Diode , IGBT静态直流参数测试
主极输出 3300V/1200A 参考价面议

ST-SP 2000_5分立元器件测试仪

分立元器件测试仪测试参数：可测试 19大类27分类 大中小功率的 分立器件及模块的 静态直流参数
（测试范围包括 Si/SiC/GaN 材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件）
主极输出 2000V / 50~1250A，分辨率*高至1mV / 10pA 参考价面议

ST-Thermal_RZth热阻（抗）测试系统

热阻（抗）测试系统测试参数：Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 参考价面议

T3Ster热阻测试系统

热阻测试系统测试参数：可测试器件稳态热阻Rth（J-C）散热：设备采用水冷散热，用于测试IC、LED、散热器、热管等电子器件的热特性 参考价面议

ST-Thermal_X稳态热阻测试仪

稳态热阻测试仪
ST-Thermal_X   功率器件热特性测试系统
可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的热特性
包括 功率循环·秒级&分钟级/Pcsec&PCmin，被动循环/TC，热阻（抗）/Rth/Zth，K曲线/Kcurve 参考价面议

ST-SP_9060IGBT静态参数测试仪

ST-SP9060 功率器件静态参数测试系统
用于测试 IGBTs,MOSFETs, Diode,静态直流参数
3000V/2000A 参考价面议

ST-DP1506IGBT动态参数测试系统

ST-DP1506 功率器件动态参数测试系统
用于测试 IGBTs,MOSFETs, Diode,动态交流参数
1500V/600A，短路电流2500A 参考价面议