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HAST半导体芯片BiasHAST测试系统，

微波器件高加速寿命偏压老化测试系统是一种用于评估微波器件在条件下的性能和可靠性的测试系统。该系统通过施加高加速偏压，模拟微波器件在实际使用中可能遇到的高温、高压等恶劣环境，以加速器件的老化过程。

HAST半导体芯片BiasHAST测试系统，微波器件高加速寿命偏压老化测试系统 应用适用于各种封装形式的射频场效应管、射频功率器件进行温湿度下反偏试验 。

HAST半导体芯片BiasHAST测试系统，微波器件高加速寿命偏压老化测试系统 特点

·每颗器件的Vgs独立控制

·实时监测每个试验器件的Id、  Ig

·控制上、下电时序

·全过程试验数据保存于硬盘中，  可输出Excel

·试验报表和绘制全过程漏电流  IR变化曲线

HAST半导体芯片BiasHAST测试系统 微波器件高加速寿命偏压老化测试系统