NanoFlip纳米压痕仪可在真空和常压条件下对硬度、模量、屈服强度、刚度和其他纳米力学测试进行高精确度的测量。在扫描电子显微镜（SEM）和聚焦离子束（FIB）系统中，NanoFlip在测试（例如柱压缩）方面表现优异，可以将SEM图像与机械测试数据同步。NanoFlip测量迅速，这对于惰性环境（例如手套箱）中测试异质材料很关键。系统所配置的可选套件，例如InForce50电磁驱动器，可以提供定量结果，从而为材料研究提供有价值的解决方案。

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产品描述

NanoFlip提供高精度XYZ位移，可定位样品进行测试，还提供翻转机制，可定位样品进行成像。InView软件附带一套测试方法，涵盖一系列测试协议，并允许用户创建自己的新颖测试方法。InForce50驱动器在真空和常压条件下表现同样出色。InView软件可以记录SEM或其他显微镜图像，并与机械测试数据进行同步。创新的FIB-to-Test技术允许样品倾斜90°，无需移除样品即可实现从FIB到压痕测试的无缝过渡。

主要功能

• InForce 50驱动器，用于电容位移测量，并配有电磁启动的可互换探头

• InQuest高速控制器电子设备，具有100kHz数据采集速率和20μs时间常数

• 用于样本定位的XYZ移动系统

• SEM视频捕获，可以将SEM图像和测试数据进行同步

• *的软件集成压头校准系统，可实现快速，准确的压头校准

• 与Windows®10兼容的InView控制和数据查看软件以及协助用户设计实验的方法开发功能

主要应用

• 硬度和模量测量（Oliver-Pharr）

• 连续刚度测量

• 高速材料性质分布图

• ISO 14577硬度测试

• 聚合物的纳米动态力学分析（DMA）

• 定量刮擦和磨损测试

工业应用

• 大学、研究实验室和研究所

• 支柱和微球制造

• MEMS（微机电系统）

• 材料制造（结构压缩/拉伸/断裂测试）

• 电池和元件制造