反射膜厚仪/测厚仪/F20系列 

的台式薄膜厚度测量系统

只需按下一个按钮，您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows™系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 , F20已在世界各地有成千上万的应用被使用. 事实上，我们每天从我们的客户学习更多的应用.

选择您的F20主要取决於您需要测量的薄膜的厚度（确定所需的波长范围）应用于非晶态多晶硅，CMP，电介质，玻璃和塑料厚度，硬涂层厚度，集成电路故障分析，，铟锡氧化物与透明导电氧化物，医疗设备，金属厚度测量，有机发光显示器，眼科设备涂层，有机保焊剂/铜表面处理，聚对二甲苯涂层，光刻胶，多孔硅，制程薄膜，折射率和消光系数，硅晶圆薄膜，太阳光伏，半导体教学实验室，卷式涂层

Filmetrics F20*是监测薄膜沉积的有效工具，可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口，实时监控长晶速度，实时测量膜厚、n 、k 值以及半导体和绝缘体涂层的均匀性。可加装三个探头，同时测量三个样品，有三种不同波长选择( 波长范围从可见光380nm 至近红外1700nm)； 

主要特点：

*测量精度高，优于1% ； 
*测量速度快，几秒钟内可完成测量； 
*整套设备可放置在沉积室外； 
*操作简单，使用方便； 
*价格便宜

应用领域:

*分子束外延MBE； 
*金属有机物化学气相沉积MOCVD； 
*材料研究； 
*光电镀膜应用: 硬化膜、抗反射膜、滤波片

额外的好处：

· 每台系统內建超过130种材料库, 随着不同应用更超过数百种

· 应用工程师可立刻提供帮助（周一 - 周五）

· 网上的 “手把手” 支持 (需要连接互联网)

· 硬件升级计划