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XJP-600多功能测量显微镜是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业开发的,也可作为高级金相显微镜使用。可用来鉴别和分析各种金属和合金的组织结构,可广泛应用在工厂或实验室进行铸件质量的鉴定、原材料的检验或对材料处理后金相组织的研究分析等。该仪器设计符合人机工程学要求,使您在工作中感到舒适和轻松。
产品规格
规格参数 | XJP-600 | |||
光路系统 | 无限远校正光学系统 | ● | ||
观察头 | 正像、人性化0~45°任意可调、瞳距调节:55mm-75mm | ● | ||
目镜 | WF10X/Φ25mm、WF10X/Φ20mm带0.1十字分划板 | ● | ||
长距离无限远平场复消色差物镜 | 倍率 | 数值孔径(N.A.) | 工作距离(W.D.) | ● |
5× | 0.15 | 44 | ||
10× | 0.3 | 34 | ||
20× | 0.35 | 30 | ||
50× | 0.5 | 17 | ||
放大倍数 | 500× | ● | ||
测量工作台 | 测量平台 | X轴移动范围 | 100mm | ● |
Y轴移动范围 | 100mm | |||
调焦方式 | 手动 | |||
测量方式 | 线性编码器(X-Y-Z) | |||
数显分辨率(mm) | 0.001/0.005/0.0005 | |||
浮动功能 | X-Y快速断开 | |||
载物台直径 | 286×286mm | |||
中心玻璃台直径 | 180×180mm | |||
玻璃台载重 | 5KG | |||
检测尺 | 0.01mm测微尺 | ● | ||
DIC装置 | DIC棱镜插孔四孔转换器 | ● | ||
偏光装置 | 检偏镜可360度转动,起偏镜、检偏镜均可移出光路 | ● | ||
调焦机构 | 调焦手轮进行上下调焦 | ● | ||
照明系统 | 下光源照明:12V/50W卤素灯,带可调整光圈远心照明系统,亮度可调 | ● | ||
上科勒照明:12V/50W卤素灯,带可调视场光栏和孔径光栏,亮度可调 | ● | |||
仪器尺寸 | 长宽高:262*220*325mm | ● | ||
可升级配件 | 目镜:15× 20× | ○ | ||
物镜:2× 100× | ○ | |||
角度分度值 | ○ | |||
高质量成像系统 | ○ | |||
二维测量软件 | ○ | |||
注解:●为标配、○为可升级配件 | |