EA8000A-日本日立落地型X射线荧光分析仪-昆山嘉富亿电子科技有限公司手机版

详细介绍

项目	规格
产地	日本
元素测定范围	镁（Mg12）～铀（U92）
样品观察系统	高倍数显微镜与高解析CCD镜头模块
X射线源照射直径	30mmφ
X射线源照射方式	上照式
异物检测范围下限	20μm
异物范围扫描时间	250 mm x 200 mm，约3～10min
异物检测分析时间	1～4min
样品型态	固态（Solid）、粉态（Powder）
ZUI大样品尺寸	250(W)×200(D)×0～50(H) mm
荧光X射线源	空气冷却X射线管球管电压：45kV 管电流：900μA
检测器	Vortex® SDD（XRF Analyzer）
显像X射线源	水冷却X射线管球管电压：15、17.5、20kV 管电流：1～35mA
显像用X射线检测器	空气冷却高分辨率CCD
自动异物查找系统	自动进行样品X光分析影像、产品异物检测与异物元素自动判定
分析异物尺寸量测功能	以X光分析影像中异物的投射面积，可自动进行尺寸计算
安全装置	测试自动上锁功能样品防撞侦测功能仪器警报自动侦错
报告输出方式	Microsoft Word & Microsoft Excel
仪器尺寸	1380(W)×1042(D)×1785(H) mm
重量	660Kg（不含计算机）
使用电源	AC200～240 V(50/60Hz)/1500 VA