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AFM-in-Phenom XLAFM-SEM原子力扫描电镜一体机
全新发布的AFM-SEM原子力扫描电镜一体机 AFM-in-Phenom XL 结合了扫描电子显微镜 (SEM) 和原子力显微镜 (AFM) 的优势，实现了在同一系统中对样品进行多模态（SEM 及 AFM 形貌、元素、机械、电学、磁学）关联分析。 参考价面议 -
Phenom MAPS大面积能谱拼接
Phenom MAPS 大面积能谱拼接作为一款多模态多维度地图式图像自动采集及拼接软件，可自动获取大型图像数据集，并直观地组合和关联多种成像、分析模式，从而提供多尺度和多模态的表征数据。 参考价面议 -
ChemiSEM飞纳电镜彩色成像技术
飞纳电镜彩色成像技术ChemiSEM，将 SEM 形貌观察与 EDS 成分分析相结合，让工作流程更加流畅，简化了许多材料（包括金属、陶瓷、电池、涂层、水泥和软物质材料等）的分析流程：通过彩色元素分布图与 SEM 图像的实时叠加，在成像同时提供高质量的成分定性定量信息。 参考价面议 -
Automated Image Mapping飞纳电镜全景拼图【新品】
飞纳电镜全景拼图【新品】
全新界面，一键扫描更便捷
扫描“形状”自定义
大样品全景观测
高清图像无错位 参考价面议 -
ChemiPhase飞纳电镜物相分析软件
适用金属和矿物研究—ChemiPhase飞纳电镜物相分析软件
更容易，更全面，更准确的物相分析 参考价面议 -
GIB精修离子束系统
Technoorg Linda 精修离子束系统的低能氩离子枪（GIB） 适用于表面减薄、其他表面处理后的后处理、清洁以及去除无定形和氧 化物表面层。 当低能氩离子枪集成到扫描电镜中时 ，其作用尤为明显。有了集成离子枪 ，就可以在研究之前对样品 进行精修。 实现高质量样品的另一个重要应用是在双束 SEM / FIB 系统中进行 FIB 样品制备后，对 TEM 样品进行抛光和温和的表面清洁。 参考价面议 -
SEMPREP SMART离子研磨仪
SEMPREP SMART离子研磨仪配备了高能量和可选的低能量氩离子枪。这款设备是用于扫描电子显微镜(SEM)和电子背散射衍射(EBSD)样品的最终加工和清洁的理想选择。离子加工可以改进和清洁机械抛光的 SEM 样品并为 EBSD 分析制备无损表面。该设备还适用于快速截面加工。为您制备高精度和高质量的样品，例如在半导体测试或锂离子电池隔膜的截面检查中均能实现出色的效果。 参考价面议 -
ParticleX TC全自动汽车清洁度分析系统
飞纳Phenom ParticleX全自动汽车清洁度分析系统以台式扫描电镜和能谱仪为硬件基础，可以全自动对颗粒或杂质进行快速识别、分析和分类统计，为客户的研发以及生产提供快速、准确和可靠的定量数据支持。 参考价面议 -
ParticleX Steel全自动钢铁夹杂物分析系统
全自动钢铁夹杂物分析系统
特点：01以台式扫描电镜和能谱仪为硬件基础，02 多项设计，保证高通量快速运行，03 灵活定制自动分析流程，04标准化检测流程，提升产品稳定性。
主要功能：01自动夹杂物识别，02自动高清图像采集，03 自动能谱成分分析，04自动夹杂物分类。 参考价面议 -
ParticleX Battery全自动锂电清洁度分析系统
ParticleX Battery 全自动锂电清洁度分析系统可以全自动对正负极中的铁类杂质颗粒进行快速识别、分析和分类统计，整个过程无需人工参与。定量磁性杂质颗粒的形态、数量和种类，以此判定是哪个生产环节出了问题。 参考价面议 -
SEMPrep2颗粒样品制备
台式离子研磨抛光仪 SEMPrep2 作为新一代的高精密氩离子研磨系统，可以满足研究人员苛刻的研磨需求。集成式多功能截面抛削以及无损平面抛光系统，为 SEM 以及 EBSD 用户提供好的制样助力。【颗粒样品制备】 参考价面议 -
VSP-P1纳米气溶胶
VSParticle 致力于提供快捷的纳米材料研究方式，团队基于“火花烧蚀”技术将导电靶材快速转换为纳米气溶胶，为您解锁纳米材料研究新方案。 参考价面议