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GIB精修离子束系统
Technoorg Linda 精修离子束系统的低能氩离子枪（GIB） 适用于表面减薄、其他表面处理后的后处理、清洁以及去除无定形和氧 化物表面层。 当低能氩离子枪集成到扫描电镜中时 ，其作用尤为明显。有了集成离子枪 ，就可以在研究之前对样品 进行精修。 实现高质量样品的另一个重要应用是在双束 SEM / FIB 系统中进行 FIB 样品制备后，对 TEM 样品进行抛光和温和的表面清洁。 参考价面议 -
SEMPREP SMART离子研磨仪
SEMPREP SMART离子研磨仪配备了高能量和可选的低能量氩离子枪。这款设备是用于扫描电子显微镜(SEM)和电子背散射衍射(EBSD)样品的最终加工和清洁的理想选择。离子加工可以改进和清洁机械抛光的 SEM 样品并为 EBSD 分析制备无损表面。该设备还适用于快速截面加工。为您制备高精度和高质量的样品，例如在半导体测试或锂离子电池隔膜的截面检查中均能实现出色的效果。 参考价面议 -
ParticleX TC全自动汽车清洁度分析系统
飞纳Phenom ParticleX全自动汽车清洁度分析系统以台式扫描电镜和能谱仪为硬件基础，可以全自动对颗粒或杂质进行快速识别、分析和分类统计，为客户的研发以及生产提供快速、准确和可靠的定量数据支持。 参考价面议 -
ParticleX Steel全自动钢铁夹杂物分析系统
全自动钢铁夹杂物分析系统
特点：01以台式扫描电镜和能谱仪为硬件基础，02 多项设计，保证高通量快速运行，03 灵活定制自动分析流程，04标准化检测流程，提升产品稳定性。
主要功能：01自动夹杂物识别，02自动高清图像采集，03 自动能谱成分分析，04自动夹杂物分类。 参考价面议 -
ParticleX Battery全自动锂电清洁度分析系统
ParticleX Battery 全自动锂电清洁度分析系统可以全自动对正负极中的铁类杂质颗粒进行快速识别、分析和分类统计，整个过程无需人工参与。定量磁性杂质颗粒的形态、数量和种类，以此判定是哪个生产环节出了问题。 参考价面议 -
SEMPrep2颗粒样品制备
台式离子研磨抛光仪 SEMPrep2 作为新一代的高精密氩离子研磨系统，可以满足研究人员苛刻的研磨需求。集成式多功能截面抛削以及无损平面抛光系统，为 SEM 以及 EBSD 用户提供好的制样助力。【颗粒样品制备】 参考价面议 -
VSP-P1纳米气溶胶
VSParticle 致力于提供快捷的纳米材料研究方式，团队基于“火花烧蚀”技术将导电靶材快速转换为纳米气溶胶，为您解锁纳米材料研究新方案。 参考价面议 -
PANDORAALD 包覆改性方案
PANDORA 是高度集成的台式原子层沉积系统，可摆放在实验室的任意角落，采用旋转式反应腔实现对粉末材料的分散，有更高的兼容性。对于平面样品，则可快速插入平面反应台，实现样品的切换。PANDORA 高度集成的特点提高了使用效率，使用者甚至在安装的第一天便可以开始 ALD 实验。【ALD 包覆改性方案】 参考价面议 -
P 系列原子层沉积多少钱
P 系列是 Forge Nano 针对工业包覆研发的粉末 ALD 负载系统，可实现 kg 级粉末批量包覆，是工业生产前理想的研发工具。【原子层沉积多少钱】 参考价面议 -
Phenom Pharos G2台式场发射电镜 电子显微镜
秉承飞纳台式扫描电镜系列全自动操作、快速成像、不喷金观看不导电样品、*防震、性能稳定的特点，荷兰飞纳公司推出第二代肖特基场发射电子源台式场发射电镜 Phenom Pharos G2, 集背散射电子成像、二次电子成像和能谱分析功能于一体。高亮度肖特基场发射电子源，使用户可以轻松获得高分辨率图像，且低电压性能优异。 参考价面议 -
Apreo 2 SEM场发射电镜 电子显微镜
Thermo Scientific™ Apreo SEM 场发射电镜具有多功能性和高质量成像性能，即使是磁性样品或是传统意义上成像非常困难的样品也可以实现成像性能，因而备受赞誉。全新 Apreo 2 SEM 在原有性能基础之上，进一步优化了超高分辨成像能力，并且增设众多新功能提升了其高级功能的易用性。 参考价面议 -
Phenom Pure桌面扫描电镜 电子显微镜
对高分辨率成像来说， 桌面扫描电镜 Phenom Pure 是经济节约型的产品，与同类产品相比，它能提供更佳的成像效果。 参考价面议