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Innotéka 科学杂志:离子束技术揭示材料的真实结构

时间:2024-08-02      阅读:1834

Innotéka 科学杂志:离子束技术揭示材料的真实结构

Technoorg Linda Co. Ltd. 1990 年创立于匈牙利布达佩斯。专注于高质量的样品制备设备和相关解决方案的开发与制造。多年来一直在材料科学、电子显微镜和光学领域提供创新的产品和服务。

为了满足客户的质量要求,Technoorg Linda 自 2004 年起实施了符合 ISO 9001 标准要求的质量管理体系。

Innotéka 科学杂志:离子束技术揭示材料的真实结构

近期,Technoorg  Linda 公司CEO András Szigethy 接受了匈牙利杂志《Innotéka》的采访:

  András Szigethy: 

卡塔琳·卡里科(Katalin Karikó)(2023 年诺贝尔生理学或医学奖获得者)和费伦茨·克劳斯(Ferenc Krausz)(2023 年诺贝尔物理学奖获得者)的成功使匈牙利自然科学研究名声大噪。

然而,除了学术上的成功,我们很少听说匈牙利的科技公司代表着很高的标准,并决定了特定行业的发展步伐。但是,在电子显微镜样品制备领域,Technoorg Linda 的离子束样品制备产品 30 多年来一直被认为是该领域质量较高的设备。

热敏样品的制备

“如今,必须在纳米范围内寻找进一步发展高科技的潜力,这决定了设备技术的范围。”András Szigethy 解释道。研究人员需要基于全新的想法来确定发展方向。这十年的标志性产业不仅对人民福祉和环境发展产生影响,而且对国家和各大洲的基本战略也具有决定性影响。

这些领域包括半导体制造和电池行业。Technoorg Linda 公司的目标是寻找并解决这些行业中出现的问题,提供方案。其专业领域是在不影响原始状态的情况下,探索待研究的材料和原子结构。

Innotéka 科学杂志:离子束技术揭示材料的真实结构

András Szigethy, Technoorg Linda CEO

我们怀着无尽的兴奋展望未来 —— CEO继续说道。近年来,Technoorg Linda 作为样品制备的解决方案,成功实现了离子束技术出现在一个未知的新领域。

成功的关键是有针对性的开发 —— 考虑到扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)的市场需求。

电池隔膜横截面图像及其阳极或阴极的处理绝非易事(图1)。在保证材料质量的前提下,这类样品的微观结构无法通过传统的样品制备方法(切割、抛光)检测到。作为高孔隙率有机聚合物薄膜样品,具有绝缘性能,同时也是热敏感样品,无法使用高热切割方法。高温会熔化样品,阻碍研究人员对样品真实结构的观察。因此,电池行业需要新的解决方案。

Innotéka 科学杂志:离子束技术揭示材料的真实结构

图1.将多晶三元材料通过离子研磨仪切割后,可以观察到颗粒内部的真实情况。(来源:Technoorg Linda)

凭借 30 多年的专业经验,Technoorg Linda 开发了用于扫描电子显微镜样品无损加工工艺。通过 Ar 离子束的能量在材料表面进行微观改性,从而实现高精度、高效率,无机械损伤的样品表面处理。除此之外,设备甚至不使用冷却,从而形成了有特色的解决方案。

Innotéka 科学杂志:离子束技术揭示材料的真实结构

图2电池隔膜横截面扫描电子显微镜图像。具有两种不同微观结构的聚烯烃相,可以清晰地观察到明显差异(来源:Technoorg Linda)

Technoorg Linda 战略

“自公司成立以来,我们一直在寻找挑战,我们不断学习、创新,从而扩大 Technoorg Linda 在这一特定领域的专业知识和经验。毕竟,如果没有正确制备样品,就不可能获得高精度、高分辨率的显微图像。对我们来说,这些行业:比如芯片或电池制造,代表着进步;我们不是要追赶,而是要走在他们前面,为他们提供新的机会。我们的团队很幸运地继承了上一代人的职业道德和公司政策,注重团队精神、前瞻性思维和积极寻找挑战。我们的目标是让 Technoorg Linda 这个名字成为高品质、易学且高效的样品制备的代名词。”

“Technoorg Linda 产品为所有需要了解材料真实结构的研究人员提供了完整的工作流程和样品制备解决方案,无论是地质、冶金还是陶瓷领域。例如,从聚焦离子束 (FIB) 制成的薄片中去除镓、多孔样品无尘制备、对水或氧敏感样品表面的处理和后续的运输以及处理多层样品表面的横截面。得益于这种思维方式,我们的产品可以在世界许多大学、研究中心和工业实验室中找到。”

复纳科学仪器(上海)有限公司作为Technoorg Linda 在中国的合作伙伴,我们为客户提供产品培训、技术支持和售后服务。当前在国内市场专注于引进并推广 SEM/TEM/FIB 样品制备系列设备。其中,SEMPrep2 离子研磨仪主要用于扫描电镜(SEM)样品制备,UniMill 离子减薄仪主要用于透射电镜(TEM)样品制备,Gentle Mill 离子精修仪主要用于改善 FIB 处理后的样品。

 

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