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温度(冷热)冲击试验箱
·产品用途 该产品适用于电子元器件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。 二箱式:上部为高温箱,下部为低温箱,两箱之间由样品架连结,经气动系统在两箱间切换。 三箱式:该冲击试验箱为待测品静置之冷热交替冲击方式,广泛使用于电子零组件测试,半导体,电子线路板,金属化学,材料等测试设备。试验箱下部为低温蓄冷区,上部为高温蓄热区,试件(待测品)放置在试验箱中部,高温冲击时,上风门打开,形成高温内循环。低温冲击时,上风门关闭,下风门打开,形成低温内循环。该冲击试验箱的zui大特点是:试件(待测品)静止不动,使用户避免了因试件移动带来的诸多不便。 ·规格与技术参数 型号 CJ-42 CJ-80 CJ-150 CJ-252 ·产品结构: 1.外壳冷轧钢板喷塑/内胆不锈钢,箱门均采用优质硅橡胶密封条。 2.隔热层:硬质聚胺脂.超细玻璃棉 3.制冷方式:二元压缩制冷方式(水冷冷凝器) 4.制冷机:制冷压缩机选用2台法国“泰康”半封闭压缩机,其主要制冷配件均采用进口原件,组装成为一套复叠制冷机组。在制冷管路系统中采用了多路能量调节回路,能较好地保证达到试验箱的各项技术参数。 5.加热器:*级不锈钢翅片加热器 6.IPC2000彩色LCD触摸屏控制器,可显示所设定运行的温度曲线及温度的升降动态进程 7.待测品静止自动引导预热区、室温、预冷区温度冲击。 8.试验箱采用三箱式冲击试验程式控制。高温箱/试验箱/低温箱依上而下。样品在试验室内保持静止。 ·设备符合MIL-STD-883C,GB/T2423.13,GJB-150.5GJB1217-91等标准的要求。
以上尺寸仅供参考,可根据客户要求设计工作室尺寸 | |
点击数:601 录入时间:2008-11-22 【打印此页】 【返回】 |