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面议激光投影光色性能分析仪-激光显示光学测试系统-LCOS激光投影分析系统-SS445产品描述:
激光投影光色性能分析仪-激光显示光学测试系统-LCOS激光投影分析系统-SS445 是Microvison 专门为大屏幕投影显示测量而设计一款产品,适用于所有投影技术,如DLP、LCD、LCOS、影院屏幕,以及后屏投影仪、仿真器等。SS445采用计算机控制的Pan & Tilt定位系统,从而移动到所需的测试点,配置的140万像素CCD相机,具有自动对焦功能,可以测量MTF、亮度、均匀度、伽马等,而配置的分光光谱辐射计可以用于亮度和色度的测量。测量时,一般放置在三脚架上或投影屏幕前的桌子上,从观察者的角度进行测量,从而更好地表征用户体验。
工作原理:
Microvision SS445是专门为大屏幕显示器设计的显示测量系统。这包括采用任何现有投影引擎技术的,直至剧院大小的投影显示器。该系统使用电动平移和倾斜机构移动到所需的测试位置。该系统可以配置有1.4MP CCD相机和/或衍射光栅光谱仪。在操作过程中,系统位于待测显示器的前面。图形生成器或Microvision的MVRemote用于自动显示测试图形,或者如有需要,客户的系统可以生成图像。SS445旨在从观察者的角度对显示器进行测量,从而更好地表现出实际看到的显示器性能。可以快速测量几个观察者位置,从而定义显示。在操作员输入所需的测试位置(X&Y或像素坐标)的情况下,测试可以自动化,并且系统将在这些位置自动查找并运行选定的测试。
产品亮点:
应用范围:
激光投影光色性能分析仪-激光显示光学测试系统-LCOS激光投影分析系统-SS445技术参数:
CCD相机
Spectrometer + Goniometer 光谱辐射计+测角仪
Pan & Tilt 位移台
升级选项:
测试案例: