一、仪器的用途：

XPN-203型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等 专业的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化，该仪器采用微电脑检测，有自动P、I、D调节，及模糊手动调节功能，通过LED显示温度值及设定温度值,仪表显示准确、清晰.稳定，对温度可设定时间间隔内或随机打印温度数据，设有“上、下”限自动报警装置，并可随时检查设定的温度数据，是新一代熔点测温，控温装置。配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件，本仪器的具有可扩展性，可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。是一组具有较完备功能和良好品质的新型产品。

三、技术参数

四、系统组成

偏光显微镜熔点测定仪(XPN-203E): 1.偏光显微镜2.适配镜3.摄像器(CCD)

4.A/D(图像采集) 5.热台6.计算机

偏光显微镜熔点测定仪(XPN-203Z):1、偏光显微镜2、适配镜3、数码相机（NIKON）

5.热台

五、总放大参考倍数

XPN-203E型：100--1600倍 XPN-203Z型：100--1500倍

熔点仪主要参数