x-ray 镀层测厚仪

x-ray 镀层测厚仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2018-05-15 14:41:46
632
产品属性
关闭
铂悦仪器（上海）有限公司青岛办事处

铂悦仪器（上海）有限公司青岛办事处

免费会员
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

M1 ORA能准确测定珠宝类合金的元素组成，分析元素范围：原子序数22号（钛）以上的所有元素。
上照式光管，光板尺寸小至0.3mm，可以对复杂式样的样品进行非接触、非破坏性的分析，数分钟内就可以得到结果。
样品尺寸Z大可达100×100×100mm，无需任何处理，直接放在样品台上检测，采用光学显微镜进行准确定位。

详细介绍

采用大感应面积的正比计数器接收样品发出的荧光信号。采集的信号越多，分析结果越精确。可以检测含量在0.5%以上的元素

基于标样模型或无标样模型，可以鉴别和定量分析样品中的所有元素。准确度高，精度达到0.2wt%对于没有预想到的元素也能够进行分析。

黄金成色分析可以用K（开）或质量百分比（%）表示

上一篇：隐形眼镜测厚仪详解 下一篇：全面解析塑料瓶壁厚底厚测试仪
热线电话 在线询价
提示

请选择您要拨打的电话：