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垂直双观测结构（DSOI）提升了灵敏度，同时降低了样品基体效应
以一当二：炬管即可垂直又可水平放置的主机，可快速切换以满足真正的双向观测要求
ORCA光路结构：同时读取130-770nm谱线信号，和通常的中阶梯光栅+棱镜交叉色散的光学系统相比，光强度信号提升可高达5倍，紫外/远紫外区的灵敏度提高
SPECTRO ARCOS型等离子体发射光谱仪（ICP-OES）超越了当代工业和科研领域金属、化学、石化、材料等行业元素分析的要求。
MultiView设计让使用者可以在90秒内将垂直炬管“旋转”成水平炬管，反之亦然。垂直炬管附加了双观测光路接口以增加光通量，提高了灵敏度，降低了基体效应，两全其美。
由CMOS组成的线性阵列检测器，无需制冷，无溢出效应，可记录样品基体强谱线中微弱的目标谱线信号，检测动态范围更宽。
SPECTRO ARCOS具有低故障、高可靠、产品寿命长的特点，使用成本很低。主机底座按照人体工程学设计，将无需吹扫的远紫外密闭光路、风冷系统、智能阀切换（选件）、便携式视频装置等多项斯派克与众不同的技术集合在一起。
