Zeta电位及纳米粒度分析仪的原理与特点
时间：2024-12-19 阅读：228
Zeta电位及纳米粒度分析仪粒度测量：动态光背散射技术和全量程米氏理论处理分子量测量：水力直径或德拜曲线技术：膜电极，微电场电势测量，“Y"型光纤探针设计，异相多普勒频移，可控参比方法，快速傅立叶转换算法，非球形颗粒校正因子。
光学系统：
3mW780nm半导体固定位置激光器，通过梯度步进光纤直接照射样品，在固定位置用硅光二极管接受背散射光信号，无需校正光路。
Zeta电位及纳米粒度分析仪主要有以下特点：
1、采用的动态光散射技术，引入能普概念代替传统光子相关光谱法﹡的“Y"型光纤光路系统，通过蓝宝石测量窗口，直接测量悬浮体系中的颗粒粒度分布，在加载电流的情况下，与膜电极对应产生微电场，测量同一体系的Zeta电位， 避免样品交叉污染与浓度变化。
2、采用异相多谱勒频移技术，较之传统的方法，获得光信号强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性。﹡的可控参比方法(CRM)，能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度。
3、超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，减少了多重散射现象的干扰，保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。
4、快速傅利叶变换算法(FFT，Fast FourierTransform Algorithm Method),迅速处理检测系统获得的能谱，缩短分析时间。
5、膜电极设计，避免产生热效应，能准确测量颗粒电泳速度。
6、无需比色皿，毛细管电泳池或外加电极池，仅需点击Zeta电位操作键，一分钟内即可得到分析结果。
7、消除多种空间位阻对散射光信号的干扰，诸如光路中不同光学元器件间传输的损失，样品池位置不同带来的误差，比色皿器壁的折射与污染，分散介质的影响，多重散射的衰减等，提高灵敏度。
