科研级微分干涉金相显微镜WYJ-52DIC配有大范围移动的载物台、采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念，带有偏光装置、微分干涉装置，可实现偏光观察、微分干涉观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于TFT液晶显示屏导电粒子分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。总放大倍数：50-800X。
◆产品特点：
1、采用了*的无限远光路设计，提供了的光学系统。
2、采用大视野目镜和无限远长距平场物镜，视场平坦,成像清晰。
4、整机采用了防霉处理，保护了镜头，延长了仪器的使用寿命。
5、两路光路自由切换输出，一路用于观察，一路连接摄像装置。
6、配有大范围移动的移动载物台，适合对大型工件观察和研究。
◆典型应用：
1、电子工业制造业对硅片、电路基板、FPD、PCB板、芯片检验，
2、观察材料表面的某些特性，3、分析金属、矿相内部结构组织。