配置新型光电二极管阵列检测器SPD-M30A的Nexera X2的系统。配备新解析手法「i-PDeA※（申请中）」，为未充分分离峰或隐藏峰的解析提供新的途径。具备的灵敏度和分离性能，进一步扩展了UHPLC分析的领域。

※ intelligent Peak Deconvolution Analysis

intelligent Peak Deconvolution Analysis (i-PDeA，申请中) 便捷分离未分离峰

即使是未分离的峰，如果应用i-PDeA功能，则可利用谱图的差异提取出单一峰，免去了未分离峰波形处理的烦恼。以传统方法难以检测的隐藏在目的成分峰中的杂质峰也可轻松检测，仅需数步便可完成检测。

 
基于i-PDeA的波形处理

目的峰洗脱在拖尾峰上了...

可无损定量准确性地对拖尾峰上的目的峰进行波形处理的 i-PdeA

的高灵敏度

新型光电二极管阵列检测器SPD-M30A采用了对应低扩散的高灵敏度毛细管池SR-Cell，实现更佳的灵敏度。噪声水平降低至高于水平的0.4×10 -5 AU以下※，为用户提供兼备高灵敏度与高分离性能的理想的UHPLC分析。

※ 2012年10月，根据本公司调查

采用SR-Cell，兼备高灵敏度与高分离性能

出色的灵敏度和宽动态量程，实现了主成分峰与0.005%（相对于主成分）的微小峰（杂质）的同时定量

 

高灵敏度检测池（选配）

● 追加实现更高灵敏度的选配检测池

SR-Cell除标准检测池之外，添加了高灵敏度检测池。光程长85 mm，长于标准检测池，更加细致、多方位检测微小色谱峰。

烷基酮分析时标准检测池与高灵敏度检测池的S/N比较

● 医药品杂质分析例

高灵敏度检测池可以充足应对医药品中以标准检测池难以检测的杂质。使用Nexera SR系统，分别以标准检测池与高灵敏度检测池（选配）分析了和其分解生成物。使用高灵敏度检测池可以检测痕量杂质。Nexera SR系统与高灵敏度检测池组合成为痕量成分分析的利器。

杂质分析中高灵敏度检测池的灵敏度

光电二极管阵列检测器SPD-M30A采用优化的光学系统设计，提供优异的谱图分辨率。

配备优异的信号处理技术，从低浓度到高浓度的宽区域实现直观的谱图线性，是很适合药物纯度试验等要求宽动态量程分析的检测器。