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HAST半导体高加速立式偏压应力老化试验箱

HAST半导体高加速立式偏压应力老化试验箱，HAST高加速寿命试验箱主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性，是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度、压力的各种条件来完成的，这些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者产品内部。

HAST半导体高加速立式偏压应力老化试验箱

特点

·高机能：采用驱动计测， 测试时焊接工序大幅减少

·软件设计简单明了，直观易操作

·远程监控功能，可监控试验过程。

·便利性高：构造装着脱落式、 易进行保养交换。可同时试验停 止等联动装置功能，系统构成灵活。

·测试自检功能：点检、校正方便。

·设计精巧，不受场所限制，易移动。

·可靠性高：配有CF卡，以防设备故障数据丢失。以UPS作为系统的支撑，确保试验的安全继续进行。

HAST半导体高加速立式偏压应力老化试验箱

用于评估非气密性封装IC器件（固态设备）在高温高湿条件下的运行可靠性，对芯片、半导体等其他元器件进行温湿度（偏压）高加速应力寿命老化试验。

应用领域： PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件、车规级芯片

HAST半导体高加速应力测试箱BHAST实验箱