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HAST高加速老化寿命试验箱

试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。

HAST高加速老化寿命试验箱

特点

·高机能：采用驱动计测， 测试时焊接工序大幅减少

·软件设计简单明了，直观易操作

·远程监控功能，可监控试验过程。

·便利性高：构造装着脱落式、 易进行保养交换。可同时试验停 止等联动装置功能，系统构成灵活。

·测试自检功能：点检、校正方便。

·设计精巧，不受场所限制，易移动。

·可靠性高：配有CF卡，以防设备故障数据丢失。以UPS作为系统的支撑，确保试验的安全继续进行。

HAST高加速老化寿命试验箱

用于评估非气密性封装IC器件（固态设备）在高温高湿条件下的运行可靠性，对芯片、半导体等其他元器件进行温湿度（偏压）高加速应力寿命老化试验。

应用领域： PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件、车规级芯片