GP-1A 全自动磨抛机-上海标誉精密仪器有限公司手机版

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Planum-3000平面光学元件光谱分析仪

全自动透光率/反射率分析仪

型号：Pla

反射率、透过率测量，偏振光测量，膜性测量。

Planum-3000平面光学元件光谱分析仪-适宜测量范围：棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。

操作软件界面

平面光学元件光谱分析仪的技术参数：

型号 Planum-3000（Ⅰ型） Planum-3000（Ⅲ型）
探测器 Sony线形CCD 阵列 Hamamatsu背照式2D-CCD
检测范围 380-1000nm 360-1100nm
波长分辨率 1nm 1nm
信噪比（全信号） 250:1 1000:1
相对检测误差 ﹤1%（400-800nm） ﹤0.2%（400-800nm）
重复定位精度 ﹤0.005°
透射测量角度 0-80°（小样品0-50°）
反射测量角度 10-80°（可扩展到5°）
样品尺寸 ﹥Φ5mm
单次测量时间 <1ms
S/P光测量支持
其他可自定义打印报告格式，开放式光学材料数据库

型号	Planum-3000（Ⅰ型）	Planum-3000（Ⅲ型）
探测器	Sony线形CCD 阵列	Hamamatsu背照式2D-CCD
检测范围	380-1000nm	360-1100nm
波长分辨率	1nm	1nm
信噪比（全信号）	250:1	1000:1
相对检测误差	﹤1%（400-800nm）	﹤0.2%（400-800nm）
重复定位精度	﹤0.005°
透射测量角度	0-80°（小样品0-50°）
反射测量角度	10-80°（可扩展到5°）
样品尺寸	﹥Φ5mm
单次测量时间	<1ms
S/P光测量	支持
其他	可自定义打印报告格式，开放式光学材料数据库

产品简介

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