现代科学和材料工业的一大难题是如何实现在纳米级别分辨率下对样品进行无损的成分分析和鉴别。已有的一些高分辨成像技术，如电镜或扫描探针显微镜等，在一定程度上可以解决该问题，但是这些技术本身的识别能力太低，无法满足样品成分分析的要求；另一方面，红外光谱具有很高的材料成分分析能力，但是其空间分辨率却由于受到光的波长衍射极限限制，只能达到um级别，因此也无法进行纳米级别的研究。现在，瑞宇科技推出的纳米红外光谱成像显微镜，利用基于原子力显微镜的*技术（AFM-IR），这一技术将原子力显微镜的高空间分辨率、纳米级定位和成像功能与红外光谱的高化学敏感度有机地结合到一台设备中，很好的解决了这一难题。
这款纳米红外光谱成像显微镜，是一款功能强大的材料表征分析工具，使红外光谱的空间分辨率突破了光学衍射极限，能够达到10nm级别，从而在利用原子力显微镜（AFM）获得微区形貌和表面物理特征的基础上，进一步帮助用户全面解析样品表面纳米级别的化学信息，开创了纳米红外化学解析采集时间：1～60秒
空间分辨率：10nm
工作模式：接触模式、非接触模式、敲击模式
应用：
有机物及生物材料研究
聚合物多相分离研究
界面微区化学研究
晶体生长机理研究
催化剂研发
有机太阳能电池研发
