F3-sX系列膜厚仪F3-sX系列 测厚仪
F3-sX系列膜厚仪F3-sX系列膜厚仪能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米,而这种较厚的薄膜与较薄的薄膜相比往往粗糙且均匀度不好;波长选配F3-sX系列使用近红外光来测量薄膜厚度,即使有许多肉眼看来不透光(例如半导体) 参考价面议F50系列反射膜厚仪 F50系列 测厚仪
反射膜厚仪/测厚仪/F50系列自动多点测量成像FilmetricsF50系列的产品能以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度 参考价面议F20系列反射膜厚仪F20系列 测厚仪
反射膜厚仪/测厚仪/F20系列的台式薄膜厚度测量系统只需按下一个按钮,您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率 参考价面议F40系列反射膜厚仪F40系列 测厚仪
反射膜厚仪/测厚仪/F40系列将您的显微镜变成薄膜测量工具FilmetricsF40系列主要用于测试各种透明半透明的膜厚,可测量小到1微米的光斑 参考价面议SE-1000光谱椭偏仪SE-1000
SE-1000型椭偏仪采用手动变角装置来设定测试的入射角,样品台采用手动方式,在测试的准确性和灵活性与SE-2000保持一致的情况下,为客户提供了一款竞争力的椭偏测试设备 参考价面议SE2000光谱椭偏仪SE-2000
光谱椭偏仪/SpectroscopicEllipsometerSE2000型光谱型椭偏仪是多功能薄膜测试系统,适合各种薄膜材料的研究 参考价面议光谱共焦位移传感器
光谱共焦式位移传感器产品主要特点:高分辨率、高精度、高线性度适用于各种样品 参考价面议CCS Optima+CCS Optima+光电控制器
CCSOptima+型控制器适配STIL光谱共焦传感器的点传感器,点传感器测量位于光轴上的点的高度,也可用来测量透明样品的厚度 参考价面议NaniteAFMNaniteAFM原子力显微镜 电子显微镜
NanosurfNaniteAFM原子力显微镜方便集成的迷你型原子力显微镜●客户集成的理想选择●自动连续测量●灵活应对庞大的、沉重的或弯曲的样品表面形态是许多高科技表面的重要特性,其可能低至几纳米,表面粗糙度不到一纳米 参考价面议CCS PrimaCCS Prima光电控制器
CCSPrima型控制器适配STIL光谱共焦传感器的点传感器,点传感器测量位于光轴上的点的高度,也可用来测量透明样品的厚度 参考价面议NaioAFMNaioAFM原子力显微镜 电子显微镜
NanosurfNaioAFM型原子力显微镜小样品或纳米教学领域的优质的微型原子力显微镜●一体化的即插即用的微型原子力显微镜(AFM)●使用简单,●所有的标准操作模式都可用NaioAFM是纳米教学和小样品基础研究的理想原子力显微镜 参考价面议Flex-AxiomFlex-Axiom原子力显微镜 电子显微镜
Flex-Axiom型多功能原子力显微镜材料研究用的多功能AFM●用于材料研发的多功能原子力显微镜●模块化概念可以刚好符合您的需求●适用于任何尺寸的样品为了材料研发上的成功,科学家们依赖于能够随时提供所需信息的专业工具,而不管手头的任务是什么 参考价面议