快速检测，快速响应
徕卡DM3 XL正置显微镜 DM3 XL
在微电子和半导体行业中，检验、过程控制或缺陷和故障分析的速度至关重要。检测缺陷的速度越快，您做出响应的速度也就越快。
视场宽敞 30%
DM3 XL 检验系统凭借大视场帮助您的团队更快地识别缺陷，提高您的收益率。充分利用*的宏观物镜，视场宽敞 30%。
高效检验 " 样品
检验、过程控制或缺陷和故障分析全部与速度相关：任何缺陷
都有可能使生产陷入瘫痪；您需要一台显微镜来帮助团队尽快
且尽可能准确地检测缺陷。
DM3 XL 检验系统助您节省检验时间。充分利用*的宏观物镜，
视场宽敞 30%。DM3 XL 为中等预算用户提供品质，因为您
没有时间去妥协。
光学“高手”
DM3 XL 让您以实惠的价格享受到的光学性能。
采用斜射照明检验侧面、边缘或碎屑：以简单有效的方式从不同角度照亮样品，从而实现各种形貌的可视化。
借助深暗场对比检测样品较低层中的微小划痕或小颗粒。
您将对明显提高的灵敏度和分辨率感到震惊。
