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微焦点X射线检查系统 XslicerSMX-6000
面议XDimensus 300 测量用X射线CT系统
面议TQC VF2246 流平流挂器
面议UVmini-1285 紫外分光光度计
面议UVmini-1280 紫外分光光度计
面议UV-2600/2700 研究级的分光光度计 紫外分光光度计
面议UV-1900i 双光束紫外可见分光光度计
面议UV-1780 紫外可见分光光度计
面议微焦点X射线CT系统 inspeXio SMX-90CT Plus
面议微焦点X射线检查装置 SMX-800
面议SMX-350M/FI-350M X-ray检查装置(透视)
面议SMX-312M/FI-312M X-ray检查装置(透视)
面议 PDA-5500S集合了岛津火花直读光谱仪之精华,并经重新定义设计,*的工厂校正曲线与现场制作曲线相结合,可以进行常规分析,还可以满足各种复杂特殊材料的分析要求,对于钢铁、铝合金、铜合金等各种样品的分析均可以轻松应对。
稳定可靠的硬件,始终如一
人性化操作软件,易懂易用
良好的扩展功能,远瞩
低使用成本设计,经济实用
分光系统
凹面全息离子刻蚀光栅
光栅焦距600mm
光栅刻线数2400条/mm
检测波长范围120-800nm
光源系统
激发电压500V/300V软件设置自动转换
6种激发光源
放电参数可根据不同分析要求调节
水平氩气保护发光台
数据处理系统及分析软件
外置式品牌计算机及打印机
Windows操作系统
易于操作的PDA-Win分析软件包
数据管理功能
分析情报保护功能
电源和环境要求
220V±10%,50/60Hz,功率4KVA
单独地线<30Ω(干燥地区<10Ω)
温度10-30℃(每小时变化<5℃)
湿度 80%以下
重量约500kg,尺寸W1550×D620×H253
※外观及规格如有变动,恕不另行通知。
发射光谱分析:(OES:Optical Emission Spectroscopy)
所谓发射光谱分析是指使用放电等离子体蒸发气化来激发样品中的目标元素,根据得到的元素固有的亮线光谱(原子光谱)的波长进行定性,并根据发光强度进行定量的分析方法。
广义上讲,激发放电(光源)还包括使用ICP(Inductively coupled plasma 电感耦合等离子体)作为激发放电(光源)的ICP发射光谱分析。但发射光谱分析(发光分析)或光电测光式发射光谱分析,是指使用火花放电/直流电弧放电 /辉光放电作为激发放电的发射光谱分析。发射光谱分析中,在固体金属样品和与电极之间发生放电。
岛津的发射光谱分析装置是在氩气氛围中进行火花放电,对火花脉冲的发光进行统计处理,采用可提高测定重现性(精度)的方式(PDA测光方式:Pulse Distribution Analysis)。
发射光谱分析装置可快速测定固体金属样品的元素组成,是在炼铁、铝冶炼工艺管理用中的手段。