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微焦点X射线检查系统 XslicerSMX-6000
面议XDimensus 300 测量用X射线CT系统
面议TQC VF2246 流平流挂器
面议UVmini-1285 紫外分光光度计
面议UVmini-1280 紫外分光光度计
面议UV-2600/2700 研究级的分光光度计 紫外分光光度计
面议UV-1900i 双光束紫外可见分光光度计
面议UV-1780 紫外可见分光光度计
面议微焦点X射线CT系统 inspeXio SMX-90CT Plus
面议微焦点X射线检查装置 SMX-800
面议SMX-350M/FI-350M X-ray检查装置(透视)
面议SMX-312M/FI-312M X-ray检查装置(透视)
面议IG-1000 单纳米粒度测定装置:超越单纳米区域,深入亚纳米区域。
该仪器采用诱导光栅(IG)方法,这种全新的方法基于利用双向电泳和衍射光现象测量来实现纳米范围粒度的测定。
对于纳米颗粒的测量,常规方法采用动态光散射方法,但对于小于100纳米的粒子,光将被分散,强度急骤减弱。此外,在单纳米粒度区域(例如,粒度小于10纳米),物理限制使得很难探测到散射光,因此粒度的测量也会变得困难。IG方法不使用散射光,所以它不受物理限制,并且它不需要输入折射率作为测量条件。因此它使得纳米粒子的测量变得简易,并具有高灵敏度,尤其是对单纳米颗粒粒子分析非常有效。
单纳米粒子的高灵敏度分析
诱导光栅技术使用粒子形成的衍射光栅发射出的衍射光,而不是粒子发射出散射光,因此,即便在单一纳米颗粒区域,也可获得充足的信噪比,重复性好,测量稳定。
耐污染
新的测量原理耐受污染,即使样品混杂了少量异物,要分析的微粒信息也应可靠有效。这意味着以去除粗颗粒为目的样品过滤是不需要的。
高重现性
稳定的数据。特别是粒度小于10 nm的微粒具有高重复性,避免了单纳米颗粒区域内颗粒分析的不确定性和模糊性。同时,可利用衍射光的原始数据进行测量间的比较,藉此可粗轻松的验证测量结果。
纳米粒子在介质中的折射率的变化量受其浓度影响。因此,如果在外力的作用下让颗粒在介质中形成周期性变化的颗粒浓度分布,形成类似光栅的的形状,那么它将起到衍射光栅的作用。如果除去外力,随着粒子的分散,光栅也会消失。具体到IG方法,是通过出去外力后,粒子聚集形成衍射光栅逐渐消失所引起的衍射光强度的变化的强度和时间来测定粒子粒径的。
由双向电泳形成的微粒的衍射光栅
交变电压被应用于周期性排列的电极上,电场作用下微粒在液体中电泳并形成周期性浓度分布,聚集的微粒形成了衍射光栅。虽然微粒的周期浓度分布起到衍射光栅(粒子浓度光栅)的作用,但是如果停止交流电压,粒子将自由扩散并使光栅随之消失(申请中)。
IG方法要点
*的电极设计实现了准确的测定
周期性排列的电极本身也作为一种衍射光栅。而电极衍射光栅产生的衍射光比颗粒浓度衍射光栅产生的衍射光弱,为了精确测量由颗粒浓度衍射光扩散造成的主要衍射光的变化,需确保两种衍射光栅的产生衍射光的位置不重合。为了达到这个目的,电极设计如图所示修改,以便电极衍射光栅的间距为颗粒浓度光栅的一半(申请中)。
以下数据采用IG-1000单纳米粒度测定装置测定多种实际样品得到。
富勒醇
富勒醇是单纳米粒径范围内的一种典型的材料,使用 IG-1000可实现高重现性性的测定。
宽分布的二氧化硅样品
即使样本分布很宽,测定结果也不会向较大粒径的偏移,小粒子的存在可被精确的捕捉到。
含污染物的样品
测量结果不受极少量的污染物影响。(示例表明在粒径分布为50纳米的样品中混有1%的1-µm 粒子的测定结果)
混合试样分析
混合试样可被准确的测定。IG方法采用由粒子产生的衍射光栅扩散,所以信号尺寸不取决于粒度。这意味着混合样品的评估是可行的。如果是基于散射光的测定方法,即使体积相同,信号尺寸与粒径立方成比例,所以混合试样评估比较困难。
硅胶
聚苯乙烯胶乳
*1: 不得可能造成耐热玻璃受损的溶剂。
*2: 只要样品液体导电性不超过400 μS/cm,就可进行测量。(例如:盐水和海水只有在被较大稀释的情况下才能用于测量)