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微焦点X射线检查系统 XslicerSMX-6000
面议XDimensus 300 测量用X射线CT系统
面议TQC VF2246 流平流挂器
面议UVmini-1285 紫外分光光度计
面议UVmini-1280 紫外分光光度计
面议UV-2600/2700 研究级的分光光度计 紫外分光光度计
面议UV-1900i 双光束紫外可见分光光度计
面议UV-1780 紫外可见分光光度计
面议微焦点X射线CT系统 inspeXio SMX-90CT Plus
面议微焦点X射线检查装置 SMX-800
面议SMX-350M/FI-350M X-ray检查装置(透视)
面议SMX-312M/FI-312M X-ray检查装置(透视)
面议·全面实现纳米或亚纳米分辨性能,从纳米颗粒,粉末,催化剂和纳米器件到块状磁性样品等材料。
·效的背散射电子探测始终可保证良好的材料衬度,即使是以低电压和小束流并以任何倾斜角度对电子束敏感样品进行 TV 速率成像是也不例外。
·无比灵活的探测器可将各个探测器分割提供的信息相结合,让用户能够获得至关重要的对比或信号强度。
·各种各样的荷电缓解策略,包括样品仓压力为 500 Pa 的低真空模式,可实现任何样品的成像。
·的分析平台提供高电子束电流,而且束斑很小。仓室支持三个 EDS 探测器、共面的 EDS 和 EBSD 以及针对分析而优化的低真空系统。
·样品处理和导航极容易,具有多用途样品支架和 Nav-Cam+。
·通过高级用户指导、预设和撤消功能为新用户提供专家级结果。