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微焦点X射线检查系统 XslicerSMX-6000
面议XDimensus 300 测量用X射线CT系统
面议TQC VF2246 流平流挂器
面议UVmini-1285 紫外分光光度计
面议UVmini-1280 紫外分光光度计
面议UV-2600/2700 研究级的分光光度计 紫外分光光度计
面议UV-1900i 双光束紫外可见分光光度计
面议UV-1780 紫外可见分光光度计
面议微焦点X射线CT系统 inspeXio SMX-90CT Plus
面议微焦点X射线检查装置 SMX-800
面议SMX-350M/FI-350M X-ray检查装置(透视)
面议SMX-312M/FI-312M X-ray检查装置(透视)
面议Leica EM RES102 可对样品进行离子束减薄,清洁,截面切割,抛光以及衬度增强,这极大满足了您对应用需求的多样化和便利性。
操作简便
› 19”触摸屏电脑控制单元,监控并记录制样过程
› 内置应用参数库
› 程序化制样参数设定,加速初学者学习曲线
› 帮助文件帮助初学者以及对设备进行维护
高效/节约成本
› TEM,SEM和LM应用功能集于一体
› TEM样品制备获得的薄区大,有效提高了TEM样品制备效率
› SEM样品制备可达25mm样品直径
› 预抽室系统帮助快速交换样品,减少等待时间,并保证了样品室的持续高真空
› 局域网功能方便远程操控
› LN2样品台使得温度敏感型样品可在优化条件下进行离子研磨
› 精确的自动终止功能,适用于光学终止或透明样品的法拉第杯终止
› 在制样过程中可以时时存储活图像或视频
› 离子源和样品运动马达驱动,程序化控制,因而可获得重复性制样结