品牌
其他厂商性质
所在地
微焦点X射线检查系统 XslicerSMX-6000
面议XDimensus 300 测量用X射线CT系统
面议TQC VF2246 流平流挂器
面议UVmini-1285 紫外分光光度计
面议UVmini-1280 紫外分光光度计
面议UV-2600/2700 研究级的分光光度计 紫外分光光度计
面议UV-1900i 双光束紫外可见分光光度计
面议UV-1780 紫外可见分光光度计
面议微焦点X射线CT系统 inspeXio SMX-90CT Plus
面议微焦点X射线检查装置 SMX-800
面议SMX-350M/FI-350M X-ray检查装置(透视)
面议SMX-312M/FI-312M X-ray检查装置(透视)
面议*高精度表面粗糙度轮廓测定机,一机两用,可进行表面粗糙度和轮廓形状测量。
*配备有符合ISO,DIN,ANSI,JIS标准的五十多种评价参数。
*一个宽范围,高分辨率的检测器,提供了在同类产品中更*的高精度测量。
*通过简单的一次性操作,可更换形状、轮廓、测定装置与表面粗糙度测量装置,并不必对电缆重新布线。
*配有易于操作的操作杆,选定需要操作的轴,即可实现任何的移动。
*SEF680配有全息光栅尺,可提高宽/窄范围测量精度和Z轴的分辨率,增加更加稳定的安全系数。
**的真直度保证。
*驱动装置可以任意倾斜45度,更方便不规则样品的量测。