品牌
其他厂商性质
所在地
微焦点X射线检查系统 XslicerSMX-6000
面议XDimensus 300 测量用X射线CT系统
面议TQC VF2246 流平流挂器
面议UVmini-1285 紫外分光光度计
面议UVmini-1280 紫外分光光度计
面议UV-2600/2700 研究级的分光光度计 紫外分光光度计
面议UV-1900i 双光束紫外可见分光光度计
面议UV-1780 紫外可见分光光度计
面议微焦点X射线CT系统 inspeXio SMX-90CT Plus
面议微焦点X射线检查装置 SMX-800
面议SMX-350M/FI-350M X-ray检查装置(透视)
面议SMX-312M/FI-312M X-ray检查装置(透视)
面议•全新的设计
•高灵敏度,宽范围的eMetricTM库仑传感器
•简单的测试,只需加载胶片并按下一个按钮即可开始
•大型触摸屏,操作简单,结果显示简单有效
•自动相对湿度和温度控制
•“测试条件矩阵”(TCMTM)功能使您可以轻松使用单一功能按钮,在多达10种不同的温度和温度条件下测试样品相对湿度。
•可扩展至32个单元
测量范围薄膜0.01—432,000 cc/m2/day
测量范围包装件0.00004—2,000 cc/pack/day
精度:0.03cc/m2/day或者±1%(取决于测量数据)
分辨率:0.005cc/m2/day
测试温度范围10至40°C±0.1℃
受控RH测试干燥(0%RH)或RH(20至90%)
校准NIST参考薄膜和认证气体
温度控制自动