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微焦点X射线检查系统 XslicerSMX-6000
面议XDimensus 300 测量用X射线CT系统
面议TQC VF2246 流平流挂器
面议UVmini-1285 紫外分光光度计
面议UVmini-1280 紫外分光光度计
面议UV-2600/2700 研究级的分光光度计 紫外分光光度计
面议UV-1900i 双光束紫外可见分光光度计
面议UV-1780 紫外可见分光光度计
面议微焦点X射线CT系统 inspeXio SMX-90CT Plus
面议微焦点X射线检查装置 SMX-800
面议SMX-350M/FI-350M X-ray检查装置(透视)
面议SMX-312M/FI-312M X-ray检查装置(透视)
面议在诸如钢铁夹杂物比例测定、粒子分析、相位或颗粒分析等应用中,可复制性至关重要。Leica DM4 M 和 Leica DM 6 M 显微镜系统值得您的信赖,获得可复制的结果。始终如一!
选择满足您需求的个性化图像分析系统:
Leica Application Suite (LAS) 软件平台将显微镜、软件和摄像头集成在一个软件包中,全面兼顾界面、功能和工作流程各个方面的效率。
通过 Leica DM6 M,您可使用附加的模块,例如钢铁专家 (Steel Expert)、清洁度专家 (Cleanliness Expert)、晶粒专家 (Grain Expert) 和相位专家 (Phase Expert)。
通过 Leica DM6 M 上的 Leica SmartTouch 触控屏或者 Leica DM6 M 和 Leica Smart Move 遥控上的可自由编程的各功能按钮,加速您的工作流程。
Leica DM4 M 可让您工作方便快捷:布局清晰的显示屏令所有显微镜设置一览无遗。六个功能键帮助轻松操作各种常用功能 — 无需从样品查找。
LED 照明有助于结果的可复制 — 无论您以明场 (BF)、高动态暗场 (HDF)、微分干涉相衬 (DIC)、荧光 (FL) 还是偏振 (POL) 状态工作。
凭借全自动微分干涉相衬 (DIC) 和 1.25 倍全景物镜,即使最微小的细节也能检测到:
无论您需要的是快速概览样品还是详细检查样品的显微镜 ——
Leica DM4 M 和 Leica DM6 M 立式显微镜总能以恰当的设置满足您的需求。