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微焦点X射线检查系统 XslicerSMX-6000
面议XDimensus 300 测量用X射线CT系统
面议TQC VF2246 流平流挂器
面议微焦点X射线CT系统 inspeXio SMX-90CT Plus
面议微焦点X射线检查装置 SMX-800
面议SMX-350M/FI-350M X-ray检查装置(透视)
面议SMX-312M/FI-312M X-ray检查装置(透视)
面议SMX-3100M/FI-3100M X-ray检查装置(透视)
面议inspeXio SMX-225CT系列 微焦点X射线CT系统
面议inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus 微焦点X射线CT系统
面议微焦点X射线CT系统 InspeXio SMX-100CT
面议微焦点X射线透视检查装置 SMX-1000 Plus/1000L Plus
面议高灵敏度—3个检测器
配置了3个检测器,一个检测紫外及可见区域的PMT检测器,检测近红外区域的InGaAs 和 PbS检测器。InGaAs检测器弥补了PMT和 PbS转换波长灵敏度低的特点,从而保证了在整个检测波长范围内高灵敏度测定。在1500 nm波长检测时噪声小于0.00003 Abs,达的噪声水平。
高分辨率—宽测量范围及超低的杂散光
采用高性能双单色器,实现高分辨率(分辨率0.1nm)和超低杂散光(340nm处杂散光0.00005%以下)。测定波长范围为185nm-3300nm,可在紫外、可见、近红外的广阔范围进行测定。可应对广泛领域的测定要求。
各式应用程序的丰富配件
使用多功能大样品室和积分球附属装置可测定固体试样,使用保证测定精度的反射测定装置ASR系列也可进行高精度的反射测定。此外,可安装电子冷热式恒温池架和超微量池架等,适应广泛的应用测定。
UV-3600Plus展现了使用InGaAs检测器下NIR区域的低噪声。