品牌
其他厂商性质
所在地
微焦点X射线检查系统 XslicerSMX-6000
面议XDimensus 300 测量用X射线CT系统
面议TQC VF2246 流平流挂器
面议UVmini-1285 紫外分光光度计
面议UVmini-1280 紫外分光光度计
面议UV-2600/2700 研究级的分光光度计 紫外分光光度计
面议UV-1900i 双光束紫外可见分光光度计
面议UV-1780 紫外可见分光光度计
面议微焦点X射线CT系统 inspeXio SMX-90CT Plus
面议微焦点X射线检查装置 SMX-800
面议SMX-350M/FI-350M X-ray检查装置(透视)
面议SMX-312M/FI-312M X-ray检查装置(透视)
面议配备高精度垂直型测角仪,适用于粉末、薄膜、难于固定的样品、易溶样品等各种样品的测定。
适于工业环境中的游离硅以及石棉的定性 · 定量分析。
在劳动安全卫生法中,关于因劳动者在工作中的暴露而对其造成健康损害的92种物质,规定必须实施其作业环境的测定。其中,粉尘中的游离硅以及石棉的定性·定量分析可以使用X射线衍射装置。最近因相关法规的修订,对有害物质的管理浓度、分析程序进行了修改。
本测定包配备了依据「基底标准吸收校正法」的样品台和定量软件,这不仅是使用X射线衍射装置XRD-6100对收集在滤纸上的工业环境测定中的游离硅、石棉进行定性分析需要的,在这些微量样品的定量分析中也是的。
游离硅的定性·定量分析
工业环境测定中矿物性粉尘的管理浓度为按以下公式计算出的量。(从2005年4月1日开始实行)
E=3.0/(0.59Q+1) (参考)修订前E=2.9/(0.22Q+1)E:管理浓度mg/m3 Q:游离硅含有率(%)
所以知道粉尘中游离硅酸的含有率是很重要的。
游离硅种类有石英、微晶物、鳞石英等。 在此回修订中,首先规定使用X射线衍射装置掌握含有什么种类的游离硅(定性分析),根据其定性结果,以使用磷酸法或X射线衍射装置的基底标准吸收校正法进行定量。
下图表示这些游离硅的衍射模式,分别具有各自的特征峰,因此,易于识别其种类。
物质的衍射X射线强度因受基底物质吸收的影响,必须进行校正。为进行校正必须求得基底物质的X射线吸收系数。可在一次的测定中将其完成的方法就是「基底标准吸收校正法」。本测定包包括采用了此基底吸收校正法的专用定量分析软件。
各種游离硅的衍射模式
石棉的定性·定量分析
关于石棉,在2005年7月实施了【石棉伤害预防规则】。适用此规则的建材等样品,如果其石棉含量超过重量5%左右以上,则可使用X射线衍射装置以标准添加法或内标添加法对采集来的样品进行定量,但对于少于上述含量的样品有时不能进行定量。
此时,作为只溶解样品基底成分的前处理方法,实施甲酸前处理法,然后使用X射线衍射装置以基底标准吸收校正法进行定量。
在石棉的定性 · 定量分析中,也可使用配备有基底标准吸收校正法的环境测定样品台的X射线衍射装置XRD-6100环境测定包。
各种石棉的衍射模式
石棉主要有蛇纹石类的纤蛇纹石,角闪石类的铁直闪石、虎睛石等。使用X射线衍射法利用它们的特峰进征行定量分析。